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processus de chargement du portoir d'échantillons au moyen de l'écran Configuration
du test de deuxième intention. Sous cette configuration, les spécimens qui sont
programmés pour être analysés avec le test de dépistage configuré sont mis en
surbrillance durant le processus de chargement du portoir d'échantillons. Les
spécimens peuvent alors être désignés par l'opérateur pour une affectation de
commande de test de deuxième intention. Une fois désignés, les échantillons qui
produisent des résultats qui répondent aux critères de test de deuxième intention
sont affectés à une commande de test de deuxième intention (voir Affectation de
tests de deuxième intention durant le chargement de portoir d'échantillons page
362).
Cette configuration est traitée différemment en mode de chargement par lot et en
mode d'accès direct (LIS). En mode de chargement par lot, le système passe
automatiquement à l'écran Chargement du portoir d'échantillons pour permettre à
l'opérateur de désigner les spécimens pour le test de deuxième intention. En mode
d'accès direct, les spécimens qui sont programmés pour être analysés avec le test de
dépistage configuré sont identifiés par « R » lors du chargement. L'opérateur devra
sélectionner le portoir, puis sélectionner Détails du portoir pour passer à l'écran
Chargement du portoir d'échantillons pour l'affectation des échantillons (voir
Affectation de tests de deuxième intention durant le chargement de portoir
d'échantillons page 362).
Pour configurer le système pour permettre à l'opérateur d'attribuer des commandes
de test de deuxième intention durant le chargement du portoir d'échantillons :
1. Dans l'écran Administration, sélectionner Configuration du test de deuxième
intention.
L'écran passe à l'écran Configuration du test de deuxième intention.
2. Cocher la case Activer le test de deuxième intention pour la condition de test de
deuxième intention voulue. Le système ne donne la liste des options de test de
deuxième intention que si les tests initiaux et les tests de deuxième intention
sont tous les deux chargés dans le système.
L'option Sélectionner au chargement du portoir devient disponible après avoir
coché la case Activer le test de deuxième intention.
3. Cocher la case Sélectionner au chargement du portoir.
4. Sélectionner Enregistrer pour enregistrer les paramètres de configuration.
Affectation de tests de deuxième intention durant le chargement de portoir
d'échantillons
Pour affecter des spécimen pour un test de deuxième intention durant le chargement
du portoir d'échantillons :
Manuel de l'opérateur du Panther® / Panther Fusion® System
AW-20220-901 Rév. 001 (FR)
Administration du système
362
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