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de test jusqu'à ce que les spécimens associés soient chargés à nouveau dans le système.
Le bouton Commandes de test clignote en jaune quand des commandes de test de
deuxième intention sont présentes et que l'utilisateur doit charger à nouveau le tube de
spécimen associé. Quand le système est en mode de chargement, les spécimens chargés
à nouveau avec des commandes de test de deuxième intention en attente ne seront pas
automatiquement affectés à une commande de test du test initial, quels que soient les
paramètres par défaut des échantillons. Les systèmes en mode d'accès direct continuent
de recevoir des commandes de test non de deuxième intention par l'intermédiaire du LIS.
Après une affectation de commande de test de deuxième intention, les spécimens
désignés pour un éventuel test de deuxième intention peuvent être facilement identifiés
dans l'écran Compartiment du portoir d'échantillons par le suffixe « DEUXIÈME
INTENTION » ajouté à l'ID échantillon.
Configuration de l'affectation automatique de commande de test de deuxième
intention
Configurer le système pour qu'il génère automatiquement des commandes de test de
deuxième intention pour tous les spécimens qui répondent aux critères
d'interprétation du résultat au moyen de l'écran Configuration du test de deuxième
intention. Dans cette configuration, les spécimens qui produisent des résultats qui
répondent aux critères désignés dans l'écran sont affectés à une commande de test
de deuxième intention. Cette configuration fonctionne de la même manière en mode
de chargement par lot et en mode d'accès direct (LIS).
Pour configurer le système pour qu'il affecte automatiquement des commandes de
test de deuxième intention :
1. Dans l'écran Administration, sélectionner Configuration du test de deuxième
intention.
L'écran passe à l'écran Configuration du test de deuxième intention.
2. Cocher la case Activer le test de deuxième intention pour la condition de test de
deuxième intention voulue. Le système ne donne la liste des options de test de
deuxième intention que si les tests initiaux et les tests de deuxième intention
sont tous les deux chargés dans le système.
L'option Sélectionner au chargement du portoir devient disponible après avoir
coché la case Activer le test de deuxième intention. Ne pas cocher la case
Sélectionner au chargement du portoir pour le paramètre automatique de test
de deuxième intention.
3. Sélectionner Enregistrer pour enregistrer les paramètres de configuration.
Configuration de l'affectation de commande de test de deuxième intention durant
le chargement du portoir
Configurer le système pour générer des commandes de deuxième intention durant le
Manuel de l'opérateur du Panther® / Panther Fusion® System
AW-20220-901 Rév. 001 (FR)
Administration du système
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