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4.3.1
Protection contre les interférences
8025991/1FYD/2022-05-11 | SICK
Sujet à modification sans préavis
Conditions préalables
•
Il n'y a pas de perturbations ou d'obstacles dans le champ de protection du
scrutateur multifaisceaux de sécurité. S'il y a des obstacles que l'on ne peut pas
éviter, des mesures de protection supplémentaires sont appliquées.
•
Si des personnes peuvent se trouver entre le dispositif de protection et le point
dangereux sans être détectées, des mesures de protection supplémentaires doi‐
vent être appliquées (par exemple, une fonction de réarmement externe).
•
Tout intrusion par le dessous, le dessus, le côté ou tout passage par en-dessous
doivent être empêchés ainsi que de déplacer le scrutateur multifaisceaux de
sécurité.
Diagnostic de la contamination et des lumières parasites
Les objets situés à une distance ≤ 50 mm de la vitre frontale du scrutateur multifais‐
ceaux de sécurité peuvent entraîner à tort des messages de contamination.
Le scrutateur de sécurité multifaisceaux effectue uniquement un diagnostic de conta‐
mination ou de lumières parasites pour les secteurs de la zone de détection qui sont
utilisés dans au moins un scénario d'alerte configuré
secteurs qui sont configurés dans aucun scénario d'alerte ne sont pas pris en compte
dans le diagnostic.
Informations complémentaires
Des conditions ambiantes optiques ou électromagnétiques particulières peuvent
influencer le scrutateur multifaisceaux de sécurité et ainsi réduire la disponibilité de
la machine.
Exemples :
•
Condensation sur la vitre frontale
•
Champs électriques puissants (par ex. câble de soudure ou câbles d'induction)
Thèmes associés
•
« Montage », page 63
•
« Plans cotés », page 108
Influence de rayons laser
Les faisceaux laser provenant d'autres sources laser peuvent influencer le scrutateur
multifaisceaux de sécurité et ainsi réduire la disponibilité de la machine.
Mesures visant à améliorer la disponibilité :
Évitez les faisceaux laser étrangers dans le plan de scrutation.
b
Réglez le nombre de balayages à la valeur la plus élevée autorisée dans votre
b
application en tenant compte des distances minimales.
Influence de lumières fortes parasites
De fortes sources de lumière externes dans le plan de scrutation peuvent influencer le
scrutateur multifaisceaux de sécurité et ainsi réduire la disponibilité de la machine.
Mesures visant à améliorer la disponibilité :
Éviter les sources de lumière externes au niveau du plan de scrutation.
b
Évitez la lumière du soleil dans le plan de scrutation.
b
Ne pas disposer de projecteur halogène, de source de lumière infrarouge et de
b
stroboscope directement sur le plan de scrutation.
CONCEPTION
(voir « Champs », page
N O T I C E D ' I N S T R U C T I O N S | scanGrid2 CANopen
4
75). Les
19
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