Prueba De Transistores - Rothewald 10002567 Mode D'emploi

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  • FRANÇAIS, page 63
umbral (valores entre aprox. 600–3000 mV según el tipo de diodo).
El diodo «bloquea» la tensión en una dirección. En la «dirección
de bloqueo» se obtiene el valor «1». Si a pesar de intercambiar las
puntas de prueba vuelve a medirse una tensión umbral, es que el
diodo está defectuoso.

5.6 | Prueba de transistores

NOTA
Peligro de deterioro
• Retire siempre los cables de prueba antes de
insertar un transistor en el zócalo de prueba.
El zócalo de prueba de transistores no está
protegido contra sobrecarga.
1. Ajuste el selector giratorio en la función hFE.
2. Inserte el polo negativo del zócalo de medición en el terminal de
entrada COM y el polo positivo en el terminal VΩmAhFE.
3. Determine el tipo de conexión del transistor (NPN o PNP)
e inserte correspondientemente el transistor en el zócalo de
medición. Si la conexión no encaja en el zócalo, absténgase de
introducirla a la fuerza para no destruir el zócalo.
4. Efectúe la lectura del valor hFE. El valor no tiene una precisión
absoluta, ya que depende, p. ej., de la temperatura. Únicamente
expresa si el transistor trabaja o no.
5. No es posible medir ningún valor hFE en transistores integrados
en un circuito, ni tampoco en transistores FET u otros transistores
unipolares.
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