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Détection et elimination des défauts
Diagnostic des défauts à l'aide de l'historique
9.2
Diagnostic des défauts à l'aide de l'historique
L'historique de la mémoire vous permet de visualiser les différents défauts. Les messages de défaut
sont sauvegardés dans huit emplacements-mémoire dans l'ordre d'apparition.
Les contenus de la mémoire peuvent être appelés via codes.
Structure de l'historique
l
Les champs associés à "Fault history" (historique de défaut) affichent les
emplacements-mémoire 2 à 7.
l
Les champs associés à "Actual fault" (défaut actuel) indiquent le contenu de l'espace mémoire
1. Ils contiennent des informations sur le défaut actif.
l
Lorsqu'il n'y a plus de défaut actif ou après acquittement du défaut :
– le contenu de la mémoire 1 est déplacé à la mémoire immédiatement supérieure ;
– le dernier défaut de la pile (défaut n° 8) est effacé de l'historique et ne peut plus être
consulté ;
– le contenu de la mémoire 1 est effacé (= pas de défaut actif).
l
Pour chaque défaut apparu, l'historique de défaut contient trois informations :
– l'identification défaut et la réaction (défaut TRIP, message...),
– l'instant d'apparition du dernier défaut consécutif du même type,
– le nombre de défauts consécutifs du même type.
Affectation des informations par rapport aux codes
Identification défaut et la réaction Instant d'apparition du défaut
Identification défaut et la réaction Instant d'apparition du défaut
9-2
Code et information pouvant être appelée
C0168
C0169
ba_`pu^MSQ co OKM
C0170
Sous-
code
Nombre de défauts consécutifs
Nombre de défauts consécutifs
du même type
du même type
Contenu de la mémoire
1
Défaut actuel
2
Contenu de la mémoire 1
3
Contenu de la mémoire 2
4
Contenu de la mémoire 3
5
Contenu de la mémoire 4
6
Contenu de la mémoire 5
7
Contenu de la mémoire 6
8
Contenu de la mémoire 7
L
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