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C.2 Paramètres de temps de réaction pour les entrées TOR de l'ET 200eco PN F-DI 8 / F-DQ 3
Où :
T
WCDT_i
T
OFDT_i
T
filter
T
DIS
T
sct
T
scf
T
cycle
9 ms
Le terme "2 x T
cycle. Les entrées TOR du module de sécurité traitent et signalent les données d'entrée
modifiées au cycle suivant.
ET 200eco PN F-DI 8x24VDC, 4xM12 / F-DQ 3x24VDC/2.0A, 3xM12
Manuel, V1.2, 07/2021, A5E39389478-AD
Temps de réaction maximum en l'absence d'une erreur : Temps de réaction maximum
des entrées TOR du module de sécurité d'une transition de signal sur l'entrée TOR
jusqu'à la disponibilité fiable du télégramme de sécurité pour la requête de la CPU de
sécurité
Temps de réaction en présence d'un défaut : Temps de réaction maximum pour que les
entrées TOR du module de sécurité signalent qu'une voie est passivée
Temps "Filtre de l'entrée" pour la voie
Temps de discordance :
•
"Temps de discordance" configuré pour les voies 1oo2 qui passent de "0" à "1"
•
"Temps de discordance" configuré pour les voies 1oo2 qui passent de "1" à "0" et
l'option "Délivrer la dernière valeur valide" configurée pour le comportement de
discordance
•
"0" pour les voies 1oo2 qui passent de "1" à "0" et l'option "Délivrer la valeur 0"
configurée pour le comportement de discordance
•
"0" pour les voies 1oo1
Vous devez inclure le temps de discordance prévu entre vos entrées de capteur dans
votre retard de capteur externe. Le T
en tant que retard pendant lequel les entrées TOR du module de sécurité peuvent
passiver la voie en raison d'une extension du temps de discordance en cas de défaut.
Ce paramètre peut être présenté séparément dans le calculateur_RT. N'ajoutez pas le
T
dans la valeur du T
DIS
le T
en tant qu'élément séparé.
DIS
Temporisation pour la durée du test de court-circuit :
•
"0" si aucun test de court-circuit n'est configuré
•
"0" pour les voies 1oo2 qui passent de "1" à "0" et l'option "Délivrer la valeur 0"
configurée pour le comportement de discordance
•
"Durée du test de court-circuit" + temps de "Filtres d'entrée" si un test de court-circuit
est configuré
(Confirmation : Les "Filtres d'entrée" peuvent se produire deux fois en équation pour
le T
si un test de court-circuit est configuré.)
WCDT_i
Temporisation pour la détection de défauts de court-circuit :
•
Intervalle du test de court-circuit configuré lors d'un fonctionnement en mode à
forte sollicitation ou continu et en fonction du test de court-circuit pour atteindre
votre niveau requis d'intégrité de sécurité
•
"0" lorsque le test de court-circuit n'est pas essentiel pour atteindre votre niveau
d'intégrité de sécurité
Temps de cycle interne du module de sécurité
" permet à d'autres retards d'entrée de s'achever juste après le début d'un
cycle
que vous avez configuré contribue au T
DIS
que vous saisissez dans le calculateur_RT si vous saisissez
OFDT
Temps de réaction de sécurité
OFDT_i
215
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