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Siemens SIMATIC ET 200eco PN F-DI 8 x 24 VDC, 4xM12 / F-DQ 3 x 24 VDC/2.0A PM, 3xM12 Manuel page 147

Périphérie décentralisée

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6.4 Configuration des paramètres d'entrée TOR et de voie du module ET 200eco PN F-DI 8 / F-DQ 3
Tableau 6- 2 Paramètres DI pour l'ET 200eco PN F-DI 8 / F-DQ 3
DI parameters
Short-circuit test
Interval for short-circuit
test (voir T_int dans la
figure ci-dessous)
ET 200eco PN F-DI 8x24VDC, 4xM12 / F-DQ 3x24VDC/2.0A, 3xM12
Manuel, V1.2, 07/2021, A5E39389478-AD
Description
Ce test crée des impulsions de désactivation de
courte durée sur les alimentations des capteurs.
Les circuits d'entrée alimentés par les tensions
Vs1 et Vs2 doivent normalement être
désactivés pendant le temps de désactivation
du capteur. Si la désactivation n'est pas
reconnue alors qu'une alimentation de capteur
est désactivée, un court-circuit à une source
d'énergie ou un autre défaut empêchant la
détection correcte de "0" par l'entrée est
signalé. Les voies d'entrée pour lesquelles un
court-circuit est détecté sont passivées.
Durant ce test, la valeur de processus transmise
ne change pas. Le paramètre "Duration of
short-circuit test" allonge le temps de réponse.
Une valeur de processus actuelle "0" au début
d'un test ne sera pas transmise au programme
utilisateur avant l'expiration du temps de test
de court-circuit.
Remarque : La case à cocher doit être
sélectionnée afin d'activer le test de court-
circuit.
Indique à quelle fréquence le test de court-
circuit est exécuté (intervalle). Définit la durée
entre deux impulsions de test avec
désactivation consécutives de l'alimentation de
capteur.
Cette valeur est le temps compris entre les
impulsions de désactivation de l'alimentation
de capteur.
Pour plus d'informations, voir la figure ci-
dessous.
Remarque : L'intervalle doit au minimum être
huit fois supérieur à la durée du test.
Remarque : Désactivé si la case "Test de court-
circuit" n'est pas cochée.
Default
Options
Case à cocher
Case à cocher :
sélectionnée
Sélectionnée
(test de court-
circuit activé)
Désélectionnée
(test de court-
circuit désactivé)
25,6 ms
12,8 ms
25,6 ms
51,2 ms
102,4 ms
204,8 ms
409,6 ms
819,2 ms
Configuration
147

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