Rosemount 2051
Limites d'humidité
Déplacement
volumétrique
Amortissement
Signalisation des
défaillances
A-8
Tableau A-3. Limites de température du procédé du modèle 2051
Limites de température côté haute pression du modèle 2051L
(fluide de remplissage procédé)
®
Syltherm
XLT
®
D.C. Silicone 704
D.C. Silicone 200
Fluide inerte
Glycérine et eau
®
Neobee M-20
Propylène-glycol et eau
(1) Les limites de température ambiante doivent être réduites d'un rapport de 1/1,5 lorsque
la température du procédé dépasse 85 °C.
(2) Limite de 104 °C en service sous vide ; 54 °C pour des pressions inférieures à 0,5 psia.
(3) Limite de température de 71 °C en service sous vide.
0 à 100 % d'humidité relative
3
Inférieur à 0,08 cm
Le temps de réponse de la sortie analogique à un changement d'entrée est
sélectionnable, avec une constante de temps unique comprise entre 0 et
25,6 secondes. Cet amortissement logiciel s'ajoute au temps de réponse
du module de détection.
Si les fonctions d'autodiagnostic détectent une défaillance du capteur ou
du microprocesseur, le signal de la sortie analogique est forcé sur une
valeur haute ou sur une valeur basse pour alerter l'utilisateur. Le mode de
défaillance haut ou bas peut être sélectionné par l'utilisateur grâce à un
cavalier sur le transmetteur. Le niveau de défaut de la sortie est configuré
à l'usine sur standard ou conforme à la norme NAMUR. Les valeurs sont
les suivantes :
Fonctionnement standard
Code de sortie Sortie linéaire
3,9 ≤ I ≤ 20,8
A
0,97 ≤ V ≤ 5,2
M
Fonctionnement conforme à la norme NAMUR
Code de sortie Sortie linéaire
3,8 ≤ I ≤ 20,5
A
Code de sortie F
Si les fonctions d'auto-diagnostic détectent une défaillance grave du trans-
metteur, cette information sera transmise sous la forme d'un bit d'état avec
la grandeur mesurée.
Manuel de référence
00809-0103-4101, Rév. AA
–73 à +149 °C
0 à + 205 °C
–40 à + 205 °C
–45 à + 177 °C
–18 à + 93 °C
–18 à + 205 °C
–18 à + 93 °C
Niveau de
Niveau de
défaut haut
défaut bas
I ≥ 21,75 mA
I ≤ 3,75 mA
V ≥ 5,4 V
V ≤ 0,95 V
Niveau de
Niveau de
défaut haut
défaut bas
I ≥ 22,5 mA
I ≤ 3,6 mA
Juillet 2008