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Leica Microsystems DM2000 Manuel D'utilisation page 293

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10.2 Mesures d'épaisseur
Les mesures d'épaisseur sont en principe réali-
sables à condition de pouvoir focaliser le des-
sous et le dessus de l'objet. À partir de la diffé-
rence de réglage en hauteur de la platine
(bouton de mise au point fine : distance des
deux divisions env. 1 µm), on obtient pour les
objets en diascopie une valeur qui est fonction
de l'indice de réfraction de l'objet (au travers
duquel la focalisation a eu lieu) et le cas
échéant de l'huile à immersion. La véritable
épaisseur de la partie d'objet mesurée en dias-
copie correspond au déplacement vertical de la
platine (différence de mise au point) d' et des in-
dices de réfraction n
de l'objet et n
0
entre le couvre-objet et l'objectif (air = 1).
n
0
d = d'
n
i
Exemple :
Le dessus et le dessous d'une lame mince ont
été mis au point avec un objectif à sec (n
divisions du mouvement fin mécanique (lon-
gueur de l'échelon = 1 µm) :
9,0 et 27,0.
Donc d' = 18 x 1 = 18 µm.
L'indice de réfraction supposé de la partie
d'objet est n
= 1,5.
0
Épaisseur d = 18 x 1 x 1,5 = 27 µm.
Marqueur d'objet
Il est vissé à la place d'un objectif. En tournant
le diamant, qui est réglable en hauteur, on peut
graver d'un diamant abaissable pour repères
circulaires permet de graver sur l'objet des cer-
cles concentriques, de rayon variable (sur le
couvre-objet ou à la surface de l'objet).
du milieu
i
= 1.0),
i
Fig. 66
Graduation du réticule dans l'oculaire (à gauche) et
image du micromètre-objet (à droite)
10. Mesures avec le microscope
63

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