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Comme décrit dans la partie SÉCURITÉ, toutes les bornes
de mesure sont reliées à la terre et, de ce fait, également les
douilles du testeur de composants. Cela est sans importance
pour le test de composants isolés (qui ne sont pas montés dans
un appareil ou dans un circuit).
Lors du test de composants montés dans des circuits d'essai
ou des appareils, ceux-ci doivent impérativement être préa-
lablement mis hors tension. Si l'objet à tester est alimenté par
le secteur, il faut également débrancher sa fi che secteur afi n
d'éviter tout contact entre l'oscilloscope et l'objet à tester par
le biais de la terre, ce qui risquerait de fausser les résultats
de la mesure.
Il faut uniquement tester des condensateurs
déchargés !
Le principe de test est des plus simples. Un générateur inté-
gré dans l'oscilloscope délivre une tension sinusoïdale dont
la fréquence est de 50 Hz (±10 %). Il alimente un circuit série
composé de l'objet à tester et d'une résistance intégrée. La
tension sinusoïdale est utilisée pour la déviation horizontale
et la chute de tension aux bornes de la résistance pour la
déviation verticale.
Si l'objet à tester est une grandeur réelle (par exemple une
résistance), les deux tensions de déviation sont alors en pha-
se. Un trait plus ou moins incliné apparaît à l'écran. Si l'objet
testé est en court-circuit, le trait est vertical. Un circuit ouvert
ou l'absence d'objet à tester produit une ligne horizontale.
L'inclinaison indique la valeur de la résistance, ce qui permet
de tester les résistances ohmiques entre 20 Ω et 4,7 kΩ.
Les condensateurs et les inductances (bobines, enroulements
de transformateur) produisent une différence de phase entre
T e s t e u r d e c o m p o s a n t s
le courant et la tension, c'est-à-dire entre les tensions de
déviation, ce qui donne lieu à une image elliptique. La position
et l'ouverture de l'ellipse caractérisent l'impédance à une
fréquence de 50 Hz. Les condensateurs peuvent être affi chés
entre 0,1 μF et 1000 μF.
–
Une ellipse dont l'axe longitudinal est horizontal indique une
impédance élevée (faible capacité ou forte inductance).
–
Une ellipse dont l'axe longitudinal est vertical indique une
faible impédance (capacité élevée ou faible inductance).
–
Une ellipse inclinée indique une résistance ohmique rela-
tivement élevée en série avec la réactance.
Dans le cas des semiconducteurs, on reconnaît le coude de la
courbe au niveau de la transition entre l'état passant et l'état
bloqué. Si la tension le permet, l'appareil affi che la caractéri-
stique directe et inverse (par exemple d'une diode Zener infé-
rieure à 10 V). Comme il s'agit toujours d'un contrôle bipolaire,
il est impossible de tester le gain d'un transistor, par exemple,
mais seulement les jonctions B-C, B-E et C-E. Le courant de
test qui n'est que de quelques mA permet de contrôler sans
risque les zones individuelles de pratiquement tous les semi-
conducteurs. Il n'est pas possible de déterminer une tension
de claquage et une tension de blocage de semiconducteur > 10
V. Cette limitation ne constitue cependant pas un inconvénient
majeur, car les écarts qui se produisent de toute façon dans le
circuit en cas de défaut permettent d'identifi er explicitement
le composant défectueux.
Des résultats relativement précis peuvent être obtenus en ef-
fectuant une comparaison avec des composants fonctionnels
de même type et de même valeur. Cela est notamment vrai
pour les semiconducteurs. Il est ainsi possible de déterminer
rapidement la cathode d'une diode dont le marquage est in-
connu, la différence entre un transistor PNP et le modèle NPN
complémentaire ou encore l'ordre correct des broches B-C-E
d'un modèle de transistor inconnu.
Il faut ici tenir compte du fait que l'inversion des bornes d'un
semiconducteur (inversion des cordons de mesure) provoque
une rotation de l'image de 180° autour du point central du
graticule.
Un autre aspect important est la facilité de détection des com-
posants coupés ou en court-circuit, ce qui est la fonction la
plus couramment utilisée lors d'un dépannage. Il est fortement
recommandé d'adopter les mesures de précaution d'usage
pour les composants MOS en matière de décharges statiques
ou de triboélectricité. Un ronfl ement peut apparaître à l'écran
si la liaison de base ou de gâchette d'un transistor est coupée,
c'est-à-dire non testée (sensibilité de la main).
Les tests effectués directement dans le circuit sont possibles
dans de nombreux cas, mais pas vraiment explicites. Le circuit
parallèle composé de grandeurs réelles et/ou complexes, nota-
mment si celles-ci présentent une impédance particulièrement
faible à une fréquence de 50 Hz, donne généralement lieu des
différentes importantes par rapport aux composants isolés. Si
l'on travaille souvent avec des circuits de même type (entretien),
une comparaison avec un circuit en état de fonctionnement est ici
suffi sante. Cette méthode est même particulièrement rapide, car
il est inutile (et interdit !) de mettre le circuit de référence sous
tension. Il suffi t d'appliquer les cordons de mesure successive-
ment sur les mêmes paires de points de mesure et de comparer
les images obtenues. Sous certaines conditions, le circuit testé
contient déjà lui-même le circuit de référence, par exemple dans
le cas des canaux stéréo, d'un étage push-pull, d'un pont sym-
Sous réserve de modifi cations
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