Fonctionnement En Mode Impact Électronique (Ei); Agilent Technologies - Agilent Technologies 5975 DDM Série Manuel D'utilisation

Agilent 5975 Série DDM
Manuel d'utilisation
3
Fonctionnement en mode impact
électronique (EI)
Exploitation du DDM depuis le système d'acquisition de données
Exploitation du DDM depuis le tableau de commande local (LCP)
Messages d'état du LCP
Menus LCP 53
Interface CPG/DDM EI
Avant de mettre le DDM en marche
Mise sous vide 59
Commande des températures
Commande du débit de la colonne
Mise à l'air du DDM 61
Affichage de la température de l'analyseur et de l'état du vide du DDM
Configuration des fenêtres de surveillance des températures et de l'état
du vide du DDM 64
Configuration des températures de l'analyseur du DDM
Configuration de la température de l'interface CPG/DDM depuis la
ChemStation 67
Surveillance de la pression du vide secondaire
Mesure de la vitesse linéaire du gaz vecteur dans la colonne
Confirmation du débit de colonne
Pour régler le MSD 73
Vérification des performances du système
Test aux masses élevées (DDM série 5975)
Dépose des capots du DDM
Mise à la pression atmosphérique du DDM
Ouverture de l'enceinte de l'analyseur
Fermeture de l'enceinte de l'analyseur
Mise sous vide du DDM
Transport et entreposage du DDM
Réglage de la température de l'interface CPG/DDM depuis le CPG

Agilent Technologies

51
56
58
59
60
72
74
75
78
80
82
85
89
91
49
49
62
65
69
71
93
47