SICK nanoScan3 I/O Notice D'instruction page 143

8024599/19MP/2021-01-11 | SICK
Sujet à modification sans préavis
39. Aperçu......................................................................................................................... 66
40. Champ de contour de référence................................................................................71
41. Éditeur de champ....................................................................................................... 73
42. Éditer des champs à l'aide de coordonnées............................................................ 78
43. Zone non surveillée.................................................................................................... 79
44. Entrées et sorties, locales..........................................................................................81
45. Scénarios d'alerte.......................................................................................................85
46. Simulation................................................................................................................... 89
47. Édition des données...................................................................................................90
48. Rapport........................................................................................................................93
49. Vis de fixation du capot optique.............................................................................. 106
50. Indication de défaut................................................................................................. 111
51. Enregistreur de données......................................................................................... 114
52. Historique des événements.....................................................................................115
53. Historique des messages........................................................................................ 117
54. Tests de désactivation............................................................................................. 126
55. Durée et décalage temporel des tests de désactivation dans une paire d'OSSD....
126
56. Portée et taille d'objet pour les données de mesure.............................................128
57. Portée et facteur de rémission requis pour les données de mesure................... 128
58. Plan coté................................................................................................................... 129
RÉPERTOIRE DES ILLUSTRATIONS
N O T I C E D ' I N S T R U C T I O N S | nanoScan3 I/O
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