Rockwell Automation Allen-Bradley Guard I/O DeviceNet 1732DS-IB8 Manuel Utilisateur page 88

Modules de sécurité
Table des Matières

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Chapitre 6
Configurer des modules avec le logiciel RSNetWorx for DeviceNet
88
3. Assignez le mode.
Choisir
Not Used (inutilisé)
Safety Pulse Test (test
par impulsion de
sécurité)
Safety (sécurité)
Standard
4. Assignez la source de test pour chaque entrée de sécurité sur le module
sur lequel vous souhaitez effectuer un test par impulsion.
Choisir
None (aucun)
0
1
2
3
(1)
4...15
(1) Le nombre de sorties de test varie selon la référence.
5. Assignez le temps de delai d'entrée (Input Delay Time), Off-> On (0 à
126 ms, par incréments de 6 ms).
Le temps de filtrage s'applique à la transition OFF à ON. L'entrée doit
être haute (HI) après l'expiration du délai d'entrée avant d'être mise à 1
logique. Ce temps de retard est configuré par voie, chaque voie étant
spécialement réglée pour correspondre aux caractéristiques du
dispositif, pour des performances maximales.
Publication Rockwell Automation 1791DS-UM001J-FR-P - mai 2013
Description
L' e ntrée est désactivée. Elle reste à l' é tat logique 0 si le 24 V est appliqué à la
borne d' e ntrée.
Le test par impulsion est effectué sur ce circuit d' e ntrée. Une source de test sur
le module Guard I/O doit être utilisée comme source 24 V pour ce circuit. La
source de test est configurée en utilisant le menu déroulant de source de test.
Le test par impulsion détectera les courts-circuits au 24 V et les courts-circuits
entre voies sur d'autres entrées.
Une entrée de sécurité est connectée mais le module Guard I/O n' e st pas tenu
d' e ffectuer un test par impulsion sur ce circuit. Il peut par exemple s'agir d'un
dispositif de sécurité qui effectue ses propres tests par impulsion sur les fils
d' e ntrée, comme une barrière immatérielle.
Un dispositif standard, comme un interrupteur de réinitialisation, est
connecté. Ce point ne peut pas être utilisé en fonctionnement double voie.
Description
Si le test par impulsion est effectué sur un point d' e ntrée, alors la
source de test qui fournit le 24 V pour le circuit d' e ntrée doit être
sélectionnée.
Si une source de test incorrecte est saisie, le résultat est un échec
du test par impulsion sur ce circuit d' e ntrée.

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