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Megger Centrix Evolution Fonctionnement page 20

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Données techniques du système de mesure
Paramètre
Mesure d'isolement
Tension de mesure
Gamme de mesure de résistance
Gamme de mesure de capacité
(uniquement avec 500 V ou
1 000 V)
Mesure des tendances
(uniquement avec 500 V ou
1 000 V)
Module TDR (Réflectomètre temporel)
Modes de fonctionnement
Dynamique
ProRange
(atténuation en fonction de la
distance)
Gamme de mesure
(à v/2 = 80 m/μs)
Résolution
Gamme de valeurs v/2
Précision
Fréquence d'échantillonnage
Précision base temporelle
Impédance de sortie
Largeur d'impulsion
Amplitude d'impulsion
Valeur
<6 V, 500 V, 1 000 V
1 Ω à 2 kΩ (à <6 V)
1 kΩ à 2 GΩ (à 500 V) or
1 kΩ à 2 GΩ (à 1 000 V)
0 à 20 μF (résolution 0,1 μF)
jusqu'à 15 minutes
Mesure de réflexion symétrique/asymétrique, mesure des
différences et mesures comparatives entre les différentes
phases, IFL (pour la localisation de défauts intermittents)
115 dB
+40 dB
20 m à 1 280 km
0,1 m
10 à 149,9 m/μs
0,1 % par rapport à la gamme de mesure
533 MHz
< 50 ppm
50 Ω
20 ns à 30 μs
jusqu'à ±250 V

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