Capture D'électron - Agilent Technologies 5975 Série Manuel D'utilisation

Capture d'électron
La capture d'un électron est le mécanisme fondamental qui intéresse la NCI.
La capture d'électron (on utilise fréquemment le terme de spectrométrie de
masse par capture d'électron à haute pression ou HPECMS, acronyme de
High- Pressure Electron Capture Mass Spectrometry) est responsable de la
haute sensibilité qui fait la réputation de la NCI. Pour certains échantillons,
dans des conditions idéales, la sensibilité obtenue en capture d'électrons est
de 10 à 1 000 fois plus élevée qu'en ionisation positive.
Noter que toutes les réactions associées à la CI positive se produisent
également en mode NCI, généralement avec les produits contaminants. Les
ions positifs formés ne sortent pas de la source en raison de l'inversion des
potentiels des lentilles et leur présence peut inhiber les réactions de capture
d'électrons.
La réaction suivante décrit le mécanisme de capture d'électron :
MX y représente la molécule d'échantillon et l'électron est un électron
thermique (faible énergie cinétique) produit par interaction entre les électrons
à haute énergie et le gaz réactif.
Dans certains cas, le radical- anion MX
la réaction inverse :
Cette réaction inverse est parfois appelée perte spontanée (d'un électron). Il
s'agit habituellement d'une réaction extrêmement rapide. Il y a donc très peu
de temps pour que l'anion instable soit stabilisé par des collisions ou d'autres
réactions.
La capture d'électron est favorisée par la présence d'hétéroatomes dans la
molécule. Par exemple : azote, oxygène, phosphore, soufre, silicium, et tout
particulièrement les halogènes : fluor, chlore, brome, et iode.
La présence d'oxygène, d'eau et de presque tous les contaminants interfère
avec la réaction de capture d'un électron. Les contaminants sont à l'origine de
la formation d'un ion négatif par la réaction ion- molécule plus lente. Cela
diminue généralement la sensibilité. Toutes les sources potentielles de
contamination en particulier l'oxygène (air) et l'humidité doivent être
éradiquées.
Manuel d'utilisation du DDM 5975
→ MX
MX + e –
(thermique)
·
→ MX + e –
MX –
·
–
·
–
n'est pas stable. Cela peut conduire à
Ionisation chimique
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A