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SICK nanoScan 3 1 Notice D'instruction page 151

Scrutateurs laser de sécurité

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8024599/1IVX/2023-02-22 | SICK
Sujet à modification sans préavis
39. Aperçu......................................................................................................................... 70
40. Champ de contour de référence................................................................................76
41. Éditeur de champ....................................................................................................... 77
42. Éditer des champs à l'aide de coordonnées............................................................ 82
43. Zone non surveillée.................................................................................................... 83
44. Entrées et sorties, locales..........................................................................................85
45. Scénarios d'alerte.......................................................................................................89
46. Simulation................................................................................................................... 93
47. Édition des données...................................................................................................94
48. Rapport........................................................................................................................97
49. Vis de fixation du capot optique.............................................................................. 112
50. Indication de défaut................................................................................................. 117
51. Enregistreur de données......................................................................................... 120
52. Historique des événements.....................................................................................121
53. Historique des messages........................................................................................ 123
54. Tests de désactivation............................................................................................. 133
55. Durée et décalage temporel des tests de désactivation dans une paire d'OSSD....
133
56. Portée et taille d'objet pour les données de mesure.............................................134
57. Portée et facteur de rémission requis pour les données de mesure................... 135
58. Plan coté................................................................................................................... 136
RÉPERTOIRE DES ILLUSTRATIONS
N O T I C E D ' I N S T R U C T I O N S | nanoScan3 I/O
19
151

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Nanoscan 3 10