13. MAINTENANCE, DÉPANNAGE
13.8
Diagnostic
Cette section fournit les procédures permettant de tester le bon fonctionnement de
l'appareil. Trois tests sont disponibles : test de mémoire E/S, test du clavier et mire-
test.
13.8.1
Test de mémoire E/S
Le test de mémoire E/S vérifie la mémoire et les circuits du signal E/S et affiche les
numéros du programme. Les résultats des tests de circuit sont affichés sous la forme
[OK] ou [NG] (dysfonctionnement). Si [NG] apparaît, relancez le test. Si [NG] s'affiche
toujours, demandez conseil à votre revendeur.
Remarque 1: Les résultats des tests de [SIO1] à [SIO3], vérifiés à l'aide d'un
connecteur spécial dans l'usine, s'affichent généralement en tant que "NG".
Remarque 2: Les résultats des tests de [LAN (WIRED)], [CAN], [USB (FRNT)] ou
[USB (BACK)] sont affichés en tant que "NG" sans connexion à chaque port.
1. Appuyez sur la touche MENU pour afficher le menu principal.
2. Sélectionnez [0. SYSTEM SETTING].
3. Sélectionnez [6. TEST & MEMORY CLEAR].
4. Sélectionnez [1. MEMORY INPUT/OUTPUT TEST] pour lancer le test E/S.
Les résultats de test de [SIO1]
et [SIO3] sont normalement
affichés en tant que « NG ».
Les résultats de test de
[LAN (WIRED)], [CAN], [USB
(FRNT)] ou [USB (BACK)] sont
affichés en tant que « NG »
sans connexion à chaque port.
5. Appuyez sur la touche DISP pour fermer l'écran de test et le menu.
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« - - » est affiché pour la
spécification non-DGPS.
XX : Numéros de version du
programme