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Testeur de composants
d'échantillons par impulsion, car en position 200 MS/s
l'intervalle d'échantillonnage est de 5 ns et que l'impulsion
ne contient que 4 échantillons.
Testeur de composants
Généralités
Les informations spécifiques à l'appareil sur cette commande
et les bornes associées sont contenues dans la section
" Commandes et Readout ", point (46).
L'appareil est équipé d'un testeur électronique de
composants qui permet d'afficher une courbe de test
indiquant l'état défectueux ou non du composant. Il peut
être employé pour le contrôle rapide des semiconducteurs
(par exemple diodes et transistors), des résistances,
condensateurs et inductances. Certains tests peuvent
également être réalisés sur des circuits intégrés. Tous ces
composants peuvent être testés individuellement ou en
circuit sous réserve qu'il ne soit pas alimenté.
Le principe de test est des plus simples. Un générateur
intégré délivre une tension sinusoïdale qui est appliquée aux
bornes du composant à tester en série avec une résistance
fixe intégrée. La tension sinusoïdale aux bornes du composant
est utilisée pour la déviation horizontale et la chute de tension
aux bornes de la résistance (c'est à dire le courant qui traverse
le composant) est utilisée pour la déviation verticale de
l'oscilloscope. La courbe de test représente une
caractéristique courant/tension du composant.
La plage de mesure du testeur de composants est limitée et
dépend de la tension et du courant de test maximum (voir
fiche technique). L'impédance du composant testé est
limitée à une plage comprise entre environ 20 Ω et 4,7 kΩ.
En-dehors de cette plage, la courbe de test révélera un
circuit ouvert ou un court-circuit. Il faut toujours garder
ces limites à l'esprit pour l'interprétation de la courbe de
test affichée. La majorité des composants électroniques
peuvent cependant être testés sans restrictions.
Utilisation du testeur de composants
Le testeur de composants est mis en service par pression
sur la touche COMP. TESTER située sous l'écran. Le pré-
amplificateur vertical et la base de temps sont mis hors
service. Une courte trace horizontale est observée. Il n'est
pas nécessaire de débrancher les entrées de l'oscilloscope,
les signaux d'entrées seront sans effet. En mode testeur de
composants, seules les commandes INTENS., FOCUS, et
X-POS sont actives. Toutes les autres commandes et
réglages sont inactifs.
Le branchement du composant est réalisé par deux prises
banane de 4mm reliées à des pointes de touche ou à des
grippe-fils. L'un des fils est relié à la prise COMP. TESTER,
l'autre est relié à la terre. Le composant peut être relié
aux cordons de test de différentes façons.
L'oscilloscope revient en position normale par un pression
sur la touche COMP. TESTER.
Procédure de test
Attention! Ne jamais tester un composant sous
tension. Débrancher les masses, les alimentations et
les signaux connectés au composant à tester. Mettre
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(mode analogique)
en service le testeur de composants. Brancher le
composant et observer l'oscilloscope.
Seules les capacités déchargées peuvent être testées.
Affichage de la figure de test
La page Tests montre différentes figures avec des
composants testés.
-Un circuit ouvert est représenté par une ligne horizontale.
-Un court-circuit est représenté par une ligne verticale.
Test de résitances
Si le composant est une résistance pure, la tension et le
courant sont en phase. La figure de test est une ligne droite
oblique. La valeur de la résistance détermine l'angle
d'inclinaison. Les valeurs de résistances élevées donnent une
trace proche de l'horizontale et des valeurs faibles donnent
une trace proche de la verticale.
Les résistances comprises entre 20Ω et 4,7kΩ peuvent être
évaluées. L'évaluation d'une résistance vient de l'expérience
ou d'une comparaison directe avec un composant connu.
Test de capacités et d'inductances
Les capacités et les inductances provoquent une différence
de phase entre le courant et la tension engendrant ainsi une
ellipse. L'angle et l'ouverture de l'ellipse dépend de
l'impédance du composant à 50Hz.
Une ellipse horizontale indique une haute impédance, une
faible capacité ou une inductance relativement élevée.
Une ellipse verticale indique une faible impédance, une
capacité élevée ou une inductance relativement faible.
Une ellipse inclinée provient d'une résistance élevée ajoutée
à une réactance.
Les valeurs des capacités normales ou électrochimiques de
0,1µF à 1000µF peuvent être obtenues approximativement.
Des mesures précises peuvennt être réalisées par
comparaison avec une capacité connue. Les composants
inductifs tels que bobines, transformateurs, peuvent
également être testés. La détermination de la valeur d'une
inductance est plus difficile à cause de la résistance série.
Cependant la valeur de l'impédance d'une self (à 50Hz) peut
facilement être obtenue et comparée dans la gamme de
20Ω à 4,7kΩ.
Test des semiconducteurs
La plupart des semiconducteurs tels que diodes, diodes
Zener, transistors et effets de champs peuvent être testés.
La figure obtenue dépend du type du composant (voir ci
dessous).
La principale caractéristique des semiconducteurs est la non
linéarité. Elle donne à l'écran deux segments qui forment un
angle. Il faut noter que caractéristiques directes et inverses
sont visualisées simultanément. Ce test concerne seulement
deux broches, ainsi le test de gain d'un transistor n'est pas
possible. Comme la tension de test appliquée est basse,
toutes les jonctions de la plupart des semiconducteurs
peuvent être testées sans dommage. C'est pourquoi le test
de la tension de blocage ou de la tension inverse des
semiconducteurs haute tension n'est pas possible. Dans
de nombreux cas, seul un test de circuit ouvert ou fermé
est suffisant.
Sous réserve de modifications
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