Test De Diodes; Test De Transistors; Test Sur Circuits - Hameg Instruments HM1507-3.02 Manuel

Oscilloscope
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Test de diodes

Le tracé de caractéristiques de diodes présente une
angulation. Le tracé pour les diodes haute tension est
différent parce que ces diodes sont composées de plusieurs
diodes mises en série. Il est possible que seule une partie
de la caractéristique soit visible. Les diodes Zener présentent
deux coudes, une coude proche de 0V, et un coude montrant
la tension de Zener. Les tensions de Zener supérieures à
6,8V ne peuvent pas être visualisées.
La polarité d'une diode inconnue peut être identifiée par
comparaison avec une diode connue.

Test de transistors

Les tests suivants peuvent être réalisés sur les transistors:
base émetteur, base collecteur et émetteur collecteur. Les
figures de test sont représentées ci-dessous.
Le circuit équivalent d'une diode Zener est la mise en
série de plusieures diodes normales. Il y a trois figures de
test différentes:
Pour un transistor, les figures b-e et b-c sont importantes.
La figure e-c est variable; une ligne verticale montre un
court-circuit.
Ces figures sont identiques avec la plupart des transistors
sauf avec les Darlington et les FET. Le testeur de composants
permet de distinguer un transistor P-N-P d'un transistor N-P-
N. En cas de doute, la comparaison avec un composant connu
est utile. Une inversion de connexion engendre une rotation
de la figure à l'écran de 180°.
Tests sur circuit
Attention: lors de tests sur circuit il faut s'assurer
que le circuit est deconnecté. Il ne doit être relié ni
au secteur, ni à une batterie, ni à des signaux d'entrée.
Débrancher toutes les connexions du circuit y compris
le câble de masse et les cordons de mesure afin qu'il
soit entièrement isolé électriquement.
Dans de nombreux cas les tests sur circuits sont possibles.
Les figures obtenues ne sont pas classées parce qu'elles
dépendent de l'ensemble des composants aux deux points
de test. Ainsi, la figure obtenue peut être différente de
celle obtenue avec un composant isolé. En cas de doute,
désouder le composant du circuit. Mettre le composant
directement sur les prises du testeur de composants pour
éviter les phénomènes de ronflement.
On peut également procéder par comparaison avec un circuit
en état de marche en prenant les mêmes précautions que
pour le circuit à tester.
Sous réserve de modifications
Testeur de composants
MODE NUMÉRIQUE
Par opposition au mode analogique, le mode numérique
apporte les avantages suivants :
Il est facile d'acquérir des événements monocoups. Des
signaux de fréquence extrêmement faible peuvent être
affichés sous la forme d'une courbe complète. Des impulsions
étroites à faibles taux de répétition ne provoquent pas de
baisse de luminosité. Il est facile d'interpréter et de traiter
les signaux acquis.
Comparé au mode analogique, les inconvénients du mode
numérique sont les suivants :
La résolution horizontale et verticale réduite et une vitesse
de rafraîchissement plus faible. Le risque d'affichage de
signaux fantômes provoqué par un taux d'échantillonnage
(réglage de la base de temps) relativement faible par rapport
au signal courant.
Le mode analogique offre une fidélité inégalée de
reproduction du signal. En combinant les modes analogique
et numérique en un seul oscilloscope, HAMEG permet à
l'utilisateur de choisir le fonctionnement le plus approprié
à son application spécifique.
Le HM1507-3 contient deux convertisseurs A/N flash de 8
bits ayant un taux d'échantillonnage maximum de 100 MS/s
chacun. À l'exception du mode DUAL et de l'enregistrement
monocoup qui ont un maximum de 100 MS/s pour chaque
voie, un taux de 200 MS/s est disponible dans tous les autres
modes sous réserve de choisir le calibre de base de temps
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