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HM 1004
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Testeur de composants
Généralités
Les informations spécifiques à l'appareil qui concernent
l'utilisation et le branchement du testeur de composant se
trouvent dans le paragraphe COMP. TESTER (41) dans la partie
" Éléments de commande et Readout ".
L'appareil est équipé d'un testeur électronique de
composants qui permet d'afficher une courbe de test
indiquant l'état défectueux ou non du composant. Il peut
être employé pour le contrôle rapide des semiconducteurs
(par exemple diodes et transistors), des résistances,
condensateurs et inductances. Certains tests peuvent
également être réalisés sur des circuits intégrés. Tous ces
composants peuvent être testés individuellement ou en
circuit sous réserve qu'il ne soit pas alimenté.
Le principe de test est des plus simples. Un générateur
intégré délivre une tension sinusoïdale qui est appliquée
aux bornes du composant à tester en série avec une
résistance fixe intégrée. La tension sinusoïdale aux bornes
du composant est utilisée pour la déviation horizontale et la
chute de tension aux bornes de la résistance (c'est à dire le
courant qui traverse le composant) est utilisée pour la
déviation verticale de l'oscilloscope. La courbe de test
représente une caractéristique courant/tension du
composant.
La plage de mesure du testeur de composants est limitée et
dépend de la tension et du courant de test maximum (voir
fiche technique). L'impédance du composant testé est
limitée à une plage comprise entre environ 20 Ω et 4,7 kΩ.
En-dehors de cette plage, la courbe de test révélera un circuit
ouvert ou un court-circuit. Il faut toujours garder ces limites à
l'esprit pour l'interprétation de la courbe de test affichée. La
majorité des composants électroniques peuvent cependant
être testés sans restrictions.
Utilisation du testeur de composants
Le testeur de composants est mis en service par pression
sur la touche COMP. TESTER située sous l'écran. Le pré-
amplificateur vertical et la base de temps sont mis hors
service. Une courte trace horizontale est observée. Il n'est
pas nécessaire de débrancher les entrées de l'oscilloscope,
les signaux d'entrées seront sans effet. En mode testeur de
composants, seules les commandes INTENS., FOCUS, et
X-POS sont actives. Toutes les autres commandes et
réglages sont inactifs.
Le branchement du composant est réalisé par deux prises
banane de 4mm reliées à des pointes de touche ou à des
grippe-fils. L'un des fils est relié à la prise COMP. TESTER,
l'autre est relié à la terre. Le composant peut être relié aux
cordons de test de différentes façons.
L'oscilloscope revient en position normale par un pression
sur la touche COMP. TESTER.
Procédure de test
Attention!
Ne jamais tester un composant sous tension. Débran-
cher les masses, les alimentations et les signaux
connectés au composant à tester. Mettre en service
le testeur de composants. Brancher le composant et
observer l'oscilloscope. Seules les capacités déchar-
gées peuvent être testées.
Sous réserve de modifications
Testeur de composants
Affichage de la figure de test
La page Tests montre différentes figures avec des compo-
sants testés :
- Un circuit ouvert est représenté par une ligne horizontale.
- Un court-circuit est représenté par une ligne verticale.
Test de résitances
Si le composant est une résistance pure, la tension et le
courant sont en phase. La figure de test est une ligne droite
oblique. La valeur de la résistance détermine l'angle
d'inclinaison. Les valeurs de résistances élevées donnent
une trace proche de l'horizontale et des valeurs faibles
donnent une trace proche de la verticale. Les résistances
comprises entre 20Ω et 4,7kΩ peuvent être évaluées.
L'évaluation d'une résistance vient de l'expérience ou d'une
comparaison directe avec un composant connu.
Test de capacités et d'inductances
Les capacités et les inductances provoquent une différence
de phase entre le courant et la tension engendrant ainsi une
ellipse. L'angle et l'ouverture de l'ellipse dépend de
l'impédance du composant à 50Hz. Une ellipse horizontale
indique une haute impédance, une faible capacité ou une
inductance relativement élevée. Une ellipse verticale indique
une faible impédance, une capacité élevée ou une inductance
relativement faible. Une ellipse inclinée provient d'une
résistance élevée ajoutée à une réactance.
Les valeurs des capacités normales ou électrochimiques de
0,1µF à 1000µF peuvent être obtenues approximativement.
Des mesures précises peuvennt être réalisées par
comparaison avec une capacité connue. Les composants
inductifs tels que bobines, transformateurs, peuvent
également être testés. La détermination de la valeur d'une
inductance est plus difficile à cause de la résistance série.
Cependant la valeur de l'impédance d'une self (à 50Hz) peut
facilement être obtenue et comparée dans la gamme de
20Ω à 4,7kΩ.
Test des semiconducteurs
La plupart des semiconducteurs tels que diodes, diodes
Zener, transistors et effets de champs peuvent être testés.
La figure obtenue dépend du type du composant (voir ci
dessous).
La principale caractéristique des semiconducteurs est la non
linéarité. Elle donne à l'écran deux segments qui forment un
angle. Il faut noter que caractéristiques directes et inverses
sont visualisées simultanément. Ce test concerne seulement
deux broches, ainsi le test de gain d'un transistor n'est pas
possible. Comme la tension de test appliquée est basse,
toutes les jonctions de la plupart des semiconducteurs
peuvent être testées sans dommage. C'est pourquoi le test
de la tension de blocage ou de la tension inverse des
semiconducteurs haute tension n'est pas possible. Dans de
nombreux cas, seul un test de circuit ouvert ou fermé est
suffisant.
Test de diodes
Le tracé de caractéristiques de diodes présente une
angulation. Le tracé pour les diodes haute tension est
différent parce que ces diodes sont composées de plusieurs
diodes mises en série. Il est possible que seule une partie
de la caractéristique soit visible. Les diodes Zener présentent
deux coudes, une coude proche de 0V, et un coude montrant
la tension de Zener. Les tensions de Zener supérieures à
6,8V ne peuvent pas être visualisées.
La polarité d'une diode inconnue peut être identifiée par
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