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SAVE / RECALL
coefficient de déviation verticale ainsi que le calibre de la
base de temps. Une baisse de luminosité peut alors se pro-
duire et l'écran peut paraître vide après avoir atteint les limites
physiques.
MODE NUMÉRIQUE SEULEMENT
Contrairement au mode analogique, il ne se produit pas de
baisse de luminosité.
Il convient cependant de noter que les impulsions ne doivent
pas avoir une durée inférieure à 40ns, même avec un taux
d'échantillonnage élevé (100ES/s = 10ns d'intervalle d'échan-
tillonnage), car le signal serait alors représenté avec une
amplitude trop faible.
SAVE/RECALL
La section " Éléments de commandes et Readout ", point
(12), contient la description détaillée des éléments de com-
mande. SAVE et RECALL permet à l'opérateur de stocker 9
configurations différentes de l'appareil et les rappeler. Ces
configurations contiennent tous les paramètres à l'exception
des boutons FOCUS et TR (rotation de trace) et de la touche
CAL. (fréquence de calibrage).
Testeur de composants
Généralités
Les informations spécifiques à l'appareil qui concernent l'uti-
lisation et le branchement du testeur de composant se
trouvent dans le paragraphe COMP. TESTER (45) dans la
partie "Éléments de commande et Readout".
L'appareil est équipé d'un testeur électronique de compo-
sants qui permet d'afficher une courbe de test indiquant l'état
défectueux ou non du composant. Il peut être employé pour
le contrôle rapide des semiconducteurs (par exemple diodes
et transistors), des résistances, condensateurs et inductan-
ces. Certains tests peuvent également être réalisés sur des
circuits intégrés. Tous ces composants peuvent être testés
individuellement ou en circuit sous réserve qu'il ne soit pas
alimenté.
Le principe de test est des plus simples. Un générateur inté-
gré délivre une tension sinusoïdale qui est appliquée aux
bornes du composant à tester en série avec une résistance
fixe intégrée. La tension sinusoïdale aux bornes du compo-
sant est utilisée pour la déviation horizontale et la chute de
tension aux bornes de la résistance (c'est à dire le courant
qui traverse le composant) est utilisée pour la déviation verti-
cale de l'oscilloscope. La courbe de test représente une
caractéristique courant/tension du composant.
La plage de mesure du testeur de composants est limitée et
dépend de la tension et du courant de test maximum (voir
fiche technique). L'impédance du composant testé est limi-
tée à une plage comprise entre environ 20 Ω et 4,7 kΩ.
En-dehors de cette plage, la courbe de test révélera un cir-
cuit ouvert ou un court-circuit. Il faut toujours garder ces
limites à l'esprit pour l'interprétation de la courbe de test
affichée. La majorité des composants électroniques peuvent
cependant être testés sans restrictions.
Utilisation du testeur de composants
Le testeur de composants est mis en service par pression
sur la touche COMP. TESTER située sous l'écran. Le pré-
amplificateur vertical et la base de temps sont mis hors
service. Une courte trace horizontale est observée. Il n'est
Sous réserve de modifications
pas nécessaire de débrancher les entrées de l'oscilloscope,
les signaux d'entrées seront sans effet. En mode testeur de
composants, seules les commandes INTENS., FOCUS, et
X-POS sont actives. Toutes les autres commandes et régla-
ges sont inactifs.
Le branchement du composant est réalisé par deux prises
banane de 4mm reliées à des pointes de touche ou à des grippe-
fils. L'un des fils est relié à la prise COMP. TESTER, l'autre est
relié à la terre. Le composant peut être relié aux cordons de
test de différentes façons. L'oscilloscope revient en position
normale par un pression sur la touche COMP. TESTER.
Procédure de test
Attention!
Ne jamais tester un composant sous tension.
Débrancher les masses, les alimentations et les si-
gnaux connectés au composant à tester. Mettre en
service le testeur de composants. Brancher le compo-
sant et observer l'oscilloscope. Seules les capacités
déchargées peuvent être testées.
Affichage de la figure de test
La page Tests montre différentes figures avec des compo-
sants testés.
- Un circuit ouvert est représenté par une ligne horizontale.
- Un court-circuit est représenté par une ligne verticale.
Test de résistances
Si le composant est une résistance pure, la tension et le cou-
rant sont en phase. La figure de test est une ligne droite
oblique. La valeur de la résistance détermine l'angle d'incli-
naison. Les valeurs de résistances élevées donnent une trace
proche de l'horizontale et des valeurs faibles donnent une
trace proche de la verticale.
Les résistances comprises entre 20Ω et 4,7kΩ peuvent être
évaluées. L'évaluation d'une résistance vient de l'expérience
ou d'une comparaison directe avec un composant connu.
Test de capacités et d'inductances
Les capacités et les inductances provoquent une différence
de phase entre le courant et la tension engendrant ainsi une
ellipse. L'angle et l'ouverture de l'ellipse dépend de l'impé-
dance du composant à 50Hz. Une ellipse horizontale indique
une haute impédance, une faible capacité ou une inductance
relativement élevée. Une ellipse verticale indique une faible
impédance, une capacité élevée ou une inductance
relativement faible.
Une ellipse inclinée provient d'une résistance élevée ajoutée
à une réactance. Les valeurs des capacités normales ou
électrochimiques de 0,1µF à 1000µF peuvent être obtenues
approximativement. Des mesures précises peuvennt être
réalisées par comparaison avec une capacité connue. Les
composants inductifs tels que bobines, transformateurs,
peuvent également être testés. La détermination de la valeur
d'une inductance est plus difficile à cause de la résistance
série. Cependant la valeur de l'impédance d'une self (à 50Hz)
peut facilement être obtenue et comparée dans la gamme
de 20Ω à 4,7kΩ.
Test des semiconducteurs
La plupart des semiconducteurs tels que diodes, diodes Zener,
transistors et effets de champs peuvent être testés. La fi-
gure obtenue dépend du type du composant (voir ci dessous).
Testeur de composants
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