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T e s t e u r d e c o m p o s a n t s
Attention:
La représentation automatique du signal est géné-
ralement impossible en présence d'un signal im-
pulsionnel dont le rapport cyclique est de 400:1 ou
STOP
plus. Le coeffi cient de déviation verticale est alors
trop petit et le coeffi cient de déviation horizontale
trop grand, ce qui a pour conséquence que seule la
trace apparaît et l'impulsion est invisible.
Dans ces cas, il est recommandé de revenir au déclenchement
normal et de régler le point de déclenchement environ 5 mm
au-dessus ou au-dessous de la trace. Un signal de ce type est
présent si la LED de déclenchement s'allume. Pour rendre le
signal visible, il faut tout d'abord sélectionner un calibre de base
de temps plus faible et ensuite un calibre vertical plus grand.
La luminosité de la trace risque alors toutefois de diminuer au
point que l'impulsion n'est plus visible.
Testeur de composants
Les informations spécifi ques à l'appareil se trouvent dans les
rubriques COMPONENT/PROBE et COMPONENT TESTER sous
«Éléments de commande et Readout».
L'oscilloscope est équipé d'un testeur de composants intégré.
Deux cordons de mesure simples munis de fi ches bananes de 4
mm sont nécessaires pour relier l'objet à tester à l'oscilloscope.
Les amplifi cateurs Y ainsi que la base de temps sont désactivés
en mode testeur de composants. Des tensions ne peuvent être
appliquées aux prises BNC que lors du test de composants
isolés (composants non montés dans un circuit). Lors du test
de composants en circuit, celui-ci doit être hors tension et
déconnecté de la terre. À part les deux cordons de mesure, il
ne doit exister aucune autre liaison entre l'oscilloscope et le
circuit voir «Test direct en circuit»).
Seules les fonctions «A-Int.» (intensité de la trace), «Focus»
(astigmatisme) et «Rotation de la trace» présentes dans le
menu FOCUS/TRACE ainsi que le bouton HORIZONTAL (position
X) permettent de modifi er l'image représentée.
Comme décrit dans la partie SÉCURITÉ, toutes les bornes
de mesure sont reliées à la terre et, de ce fait, également les
douilles du testeur de composants. Cela est sans importance
pour le test de composants isolés (qui ne sont pas montés dans
un appareil ou dans un circuit).
Lors du test de composants montés dans des circuits d'essai
ou des appareils, ceux-ci doivent impérativement être préa-
lablement mis hors tension. Si l'objet à tester est alimenté par
le secteur, il faut également débrancher sa fi che secteur afi n
d'éviter tout contact entre l'oscilloscope et l'objet à tester par
le biais de la terre, ce qui risquerait de fausser les résultats
de la mesure.
Il faut uniquement tester des condensateurs
déchargés !
Le principe de test est des plus simples. Un générateur inté-
gré dans l'oscilloscope délivre une tension sinusoïdale dont
la fréquence est de 50 Hz (±10 %). Il alimente un circuit série
composé de l'objet à tester et d'une résistance intégrée. La
tension sinusoïdale est utilisée pour la déviation horizontale
22
Sous réserve de modifi cations
et la chute de tension aux bornes de la résistance pour la
déviation verticale.
Si l'objet à tester est une grandeur réelle (par exemple une
résistance), les deux tensions de déviation sont alors en pha-
se. Un trait plus ou moins incliné apparaît à l'écran. Si l'objet
testé est en court-circuit, le trait est vertical. Un circuit ouvert
ou l'absence d'objet à tester produit une ligne horizontale.
L'inclinaison indique la valeur de la résistance, ce qui permet
de tester les résistances ohmiques entre 20 et 4,7 k .
Les condensateurs et les inductances (bobines, enroulements
de transformateur) produisent une différence de phase entre
le courant et la tension, c'est-à-dire entre les tensions de
déviation, ce qui donne lieu à une image elliptique. La position
et l'ouverture de l'ellipse caractérisent l'impédance à une
fréquence de 50 Hz. Les condensateurs peuvent être affi chés
entre 0,1 μF et 1000 μF.
–
Une ellipse dont l'axe longitudinal est horizontal indique une
impédance élevée (faible capacité ou forte inductance).
–
Une ellipse dont l'axe longitudinal est vertical indique une
faible impédance (capacité élevée ou faible inductance).
–
Une ellipse inclinée indique une résistance ohmique rela-
tivement élevée en série avec la réactance.
Dans le cas des semiconducteurs, on reconnaît le coude de la
courbe au niveau de la transition entre l'état passant et l'état
bloqué. Si la tension le permet, l'appareil affi che la caractéri-
stique directe et inverse (par exemple d'une diode Zener infé-
rieure à 10 V). Comme il s'agit toujours d'un contrôle bipolaire,
il est impossible de tester le gain d'un transistor, par exemple,
mais seulement les jonctions B-C, B-E et C-E. Le courant de
test qui n'est que de quelques mA permet de contrôler sans
risque les zones individuelles de pratiquement tous les semi-
conducteurs. Il n'est pas possible de déterminer une tension
de claquage et une tension de blocage de semiconducteur > 10
V. Cette limitation ne constitue cependant pas un inconvénient
majeur, car les écarts qui se produisent de toute façon dans le
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