Comportement Temporel Des Ossds - SICK S3000 Cold Store Notice D'instruction

12
CARACTÉRISTIQUES TECHNIQUES
12.4

Comportement temporel des OSSDs

à une résolution angulaire de 0,5° ou 0,25°
6)
Pour une résolution angulaire de 0,5° ou 0,25°.
7)
120 N O T I C E D ' I N S T R U C T I O N | S3000 Cold Store
OSSDs externes
Lorsque les OSSDs d'un autre appareil sont utilisés comme sorties de commutation via
l'interface EFI (par ex. pour 2 scrutateurs laser de sécurité connectés ensemble), le
temps de réponse augmente de 20 ms.
Thèmes associés
• « Temps de réponse de base », page 73
Le scrutateur laser de sécurité teste les OSSDs directement après la mise sous tension,
puis à intervalles de temps réguliers. Pour ce faire, l'appareil désactive brièvement les
deux OSSDs (pendant 300 µs) et contrôle si les OSSDs commutent à l'état INACTIF
pendant ce temps.
REMARQUE
La commande ne doit pas réagir à ces impulsions de test. Elle ne doit pas désactiver la
machine à cause des impulsions de test.
4
120 ms/
240 ms
OSSD1
OSSD2
1 1 2
≈ 5 ms
/15 ms
Illustration 62 : Diagramme impulsions de test sur les OSSDs
0,5 x temps de réponse de base
4
Env. 5 à 15 ms après l'activation des OSSDs, l'appareil effectue le premier test de
6)
tension 1 et directement ensuite, un second test de tension après un demi temps de
réponse de base 1.
Un test de coupure est effectué après un autre demi temps de réponse de base de
l'appareil 2, 120 ou 240 ms
effectue ensuite à intervalles de 120 ou 240 ms alternativement un test de coupure et
un test de tension 7) Durées d'impulsion des tests individuels,
page 121, voir illustration 64, page
120 ms/ 120 ms/
240 ms 240 ms
3 2
7) Et plus tard un nouveau test de tension 3. L'appareil
121, voir illustration 65, page
t
t
3
voir illustration 63,
121.
8012031/ZA20/2019-11-14 | SICK
Sujet à modification sans préavis