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SICK scanGrid2 I/O Notice D'instructions page 82

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13
CARACTÉRISTIQUES TECHNIQUES
13.3
Chronologie des tests d'OSSD
82
N O T I C E D ' I N S T R U C T I O N S | scanGrid2 I/O
où :
t
= temps de réponse du scrutateur multifaisceaux de sécurité
R
n = nombre de balayages réglé (par défaut : n = 1)
t
= durée du cycle de scrutation (≤ 46 ms)
SC
t
RO = supplément pour le temps de réponse (≤ 14 ms pour les champs de
RO
protection et ≤ 25 ms pour les champs d'alarme)
Exemple de calcul :
t
= 1 × 46 ms + 14 ms = 60 ms (champ de protection, n = 1)
R
t
= 2 × 46 ms + 25 ms = 117 ms (champ d'alarme, n = 2)
R
Montage en cascade
Lorsqu'on utilise jusqu'à quatre scrutateurs multifaisceaux de sécurité en cascade, le
temps de réponse augmente jusqu'à 28 ms.
Vous pouvez calculer la valeur précise en utilisant la capacité de charge :
t
= 2,32 x 10
 Ω x C + 5 ms
4
E
où :
t
= augmentation du temps de réponse dans la cascade (ms)
E
C = Capacité de charge ( ≤ 1 µF)
Thèmes associés
« Temps de réponse du scrutateur multifaisceaux de sécurité », page 21
« Commutation de scénarios d'alerte », page 22
« Cascade », page 35
Le scrutateur multifaisceaux de sécurité teste les OSSD à intervalles réguliers. Pour
ce faire, le scrutateur multifaisceaux de sécurité met brièvement chaque OSSD à l'état
INACTIF et vérifie si ce canal est hors tension pendant ce temps.
Assurez-vous que la commande de la machine ne réagit pas à ces impulsions de test et
que la machine n'est pas hors tension.
V
OSSD 1
V
OSSD 2
Illustration 30 : Durée et décalage temporel des tests de désactivation dans une paire d'OSSD
t
Largeur d'impulsion de test (typ. 150 µs)
1
t
Décalage de l'impulsion de test (typ. 100 ms)
2
t
Intervalle d'impulsion de test (typ. 200 ms)
3
t
3
t
2
t
1
t
t
8025937/1FYD/2022-05-11 | SICK
Sujet à modification sans préavis

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