Chronologie Des Tests D'ossd - SICK microScan3 Core I/O Notice D'instruction

13
CARACTÉRISTIQUES TECHNIQUES
13.5

Chronologie des tests d'OSSD

160 N O T I C E D ' I N S T R U C T I O N | microScan3 Core I/O
Durée du cycle de Protection contre les
balayage (t ) interférences (t
S
50 ms Mode 1
Le scrutateur laser de sécurité teste les OSSD à intervalles réguliers. Pour ce faire, le
scrutateur laser de sécurité fait passer brièvement chacune des OSSD (pendant
300 μs max.) à l'état INACTIF et vérifie si le canal correspondant est hors tension
durant ce temps.
S'assurer que la commande de la machine ne réagit pas à ces impulsions de test et
que la machine n'est pas hors tension.
t t t
S S S
V
OSSD 1.A
V
OSSD 1.B
Illustration 88 : Tests de désactivation
t Durée du cycle de balayage
S
• Réglage « 30 ms » : t
• Réglage « 40 ms » : t
• Réglage « 50 ms » : t
≤ 300 µs
V
OSSD 1.A
V
OSSD 1.B
Illustration 89 : Durée et décalage temporel des tests de désactivation dans une paire d'OSSD
t Durée du cycle de balayage
S
•
Réglage « 30 ms » : t
•
Réglage « 40 ms » : t
•
Réglage « 50 ms » : t
Sortie (t )
O
)
I
0 ms Paire d'OSSD 1
t t t
S S S
= 30 ms
S
= 40 ms
S
= 50 ms
S
4 × t
S
= 30 ms
S
= 40 ms
S
= 50 ms
S
t = temps de réponse
R
pour un nombre n de
balayages
n × 50 ms +10 ms
t t t
S S S
t
t
≤ 300 µs
t
t
8016347/15ZS/2019-11-14 | SICK
Sujet à modification sans préavis