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amplificateur vertical et la base de temps sont mis hors ser-
vice. Une courte trace horizontale est observée. Il n'est pas
nécessaire de débrancher les entrées de l'oscilloscope, les
signaux d'entrées seront sans effet. En mode testeur de
composants, seules les commandes INTENS., FOCUS, et
X-POS sont actives. Toutes les autres commandes et régla-
ges sont inactifs.
Le branchement du composant est réalisé par deux prises
banane de 4mm reliées à des pointes de touche ou à des
grippe-fils. L'un des fils est relié à la prise COMP. TESTER,
l'autre est relié à la terre. Le composant peut être relié aux
cordons de test de différentes façons.
L'oscilloscope revient en position normale par un pression
sur la touche COMP. TESTER.
Procédure de test
Attention!
Ne jamais tester un composant sous tension. Débran-
cher les masses, les alimentations et les signaux con-
nectés au composant à tester. Mettre en service le tes-
teur de composants. Brancher le composant et obser-
ver l'oscilloscope.
Seules les capacités déchargées peuvent être testées.
Affichage de la figure de test
La page suivante montre différentes figures avec des com-
posants testés.
-Un circuit ouvert est représenté par une ligne horizontale.
-Un court-circuit est représenté par une ligne verticale.
Test de résitances
Si le composant est une résistance pure, la tension et le cou-
rant sont en phase. La figure de test est une ligne droite
oblique. La valeur de la résistance détermine l'angle d'incli-
naison. Les valeurs de résistances élevées donnent une trace
proche de l'horizontale et des valeurs faibles donnent une
trace proche de la verticale.
Les résistances comprises entre 20Ω et 4,7kΩ peuvent être
évaluées. L'évaluation d'une résistance vient de l'expérience
ou d'une comparaison directe avec un composant connu.
Test de capacités et d'inductances
Les capacités et les inductances provoquent une différence
de phase entre le courant et la tension engendrant ainsi une
ellipse. L'angle et l'ouverture de l'ellipse dépend de l'impé-
dance du composant à 50Hz.
Une ellipse horizontale indique une haute impédance, une
faible capacité ou une inductance relativement élevée.
Une ellipse verticale indique une faible impédance, une ca-
pacité élevée ou une inductance relativement faible.
Une ellipse inclinée provient d'une résistance élevée
ajoutée à une réactance.
Les valeurs des capacités normales ou électrochimiques de
0,1µF à 1000µF peuvent être obtenues approximativement.
Des mesures précises peuvennt être réalisées par compa-
raison avec une capacité connue. Les composants inductifs
tels que bobines, transformateurs, peuvent également être
testés. La détermination de la valeur d'une inductance est
plus difficile à cause de la résistance série. Cependant la va-
leur de l'impédance d'une self (à 50Hz) peut facilement être
obtenue et comparée dans la gamme de 20Ω à 4,7kΩ.
Sous réserve de modifications
Test des semiconducteurs
La plupart des semiconducteurs tels que diodes, diodes Zener,
transistors et effets de champs peuvent être testés. La figure
obtenue dépend du type du composant (voir ci dessous).
La principale caractéristique des semiconducteurs est la non
linéarité. Elle donne à l'écran deux segments qui forment un
angle. Il faut noter que caractéristiques directes et inverses
sont visualisées simultanément. Ce test concerne seulement
deux broches, ainsi le test de gain d'un transistor n'est pas
possible. Comme la tension de test appliquée est basse, tou-
tes les jonctions de la plupart des semiconducteurs peuvent
être testées sans dommage. C'est pourquoi le test de la ten-
sion de blocage ou de la tension inverse des semiconduc-
teurs haute tension n'est pas possible. Dans de nombreux
cas, seul un test de circuit ouvert ou fermé est suffisant.
Test de diodes
Le tracé de caractéristiques de diodes présente une
angulation. Le tracé pour les diodes haute tension est diffé-
rent parce que ces diodes sont composées de plusieurs dio-
des mises en série. Il est possible que seule une partie de la
caractéristique soit visible. Les diodes Zener présentent deux
coudes, une coude proche de 0V, et un coude montrant la
tension de Zener. Les tensions de Zener supérieures à 6,8V
ne peuvent pas être visualisées.
La polarité d'une diode inconnue peut être identifiée par com-
paraison avec une diode connue.
Test de transistors
Les tests suivants peuvent être réalisés sur les transistors:
base émetteur, base collecteur et émetteur collecteur. Les
figures de test sont représentées ci-dessous.
Le circuit équivalent d'une diode Zener est la mise
en série de plusieures diodes normales. Il y a trois figures de
test différentes:
Pour un transistor, les figures b-e et b-c sont importantes. La
figure e-c est variable; une ligne verticale montre un court-
circuit.
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