Onglet Paramétrage - Olympus BTX II Manuel De L'utilisateur

DMTA-10031-01FR, Rév. B, Mars 2014
Nom du fichier
**-thresh.TIF
**-thresh.TXT
**-xrf.TXT
Plot.gnuplot
4.3.3 Onglet Paramétrage
Dans l'onglet Paramétrage, vous pouvez modifier les paramètres de mesure par défaut ou
créer des modes d'analyse personnalisés. Vous pouvez ainsi configurer une série de
paramètres de mesure créée uniquement pour une application particulière. Par exemple, le
rapport signal sur bruit s'améliore avec le nombre d'expositions du CCD. Dans le cas de
substances complexes, ou de celles comprenant des concentrations basses d'une phase
donnée, on tirera donc avantage à utiliser un plus grand nombre d'expositions.
Pour modifier les paramètres par défaut
1. Dans la zone Paramétrage (voir la Figure 4-10 à la page 43), cliquez dans la zone de texte,
et puis changez la valeur.
2. Faites défiler la liste et modifiez toutes les autres valeurs voulues. Voir le Tableau 11 à la
page 43 pour consulter la liste exhaustive des paramètres de mesure par défaut.
3. Allez à la fin de la liste, et puis cliquez sur Réactualiser Mode « Default ».
42 Chapitre 4
Tableau 10 Types de fichier offerts (suite)
Définition
Fichier d'images relatif aux
données seuillées. Il inclut les
rayonnements CoKa ou CuKa
et ceux énergétiquement
supérieurs.
Fichiers des données seuillées.
Il inclut les rayonnements
CoKa ou CuKa et ceux
énergétiquement supérieurs.
Fichier de données d'intensité
de fluorescence X par énergie et
canal numérique de la caméra
Fichier utilisé par l'interface
utilisateur du BTX II.
Utilisation
Utilisation pour déterminer ce qui est
filtré selon les paramètres seuils
Utilisation lorsque l'échantillon a de
fortes fluorescences de rayons X. Ce
mode n'accepte que les photons de
diffraction supérieurs à ceux de CoKa
ou CuKa.
Utilisation pour les traitements
qualitatifs de la fluorescence X
Aucune utilisation