Stereomikroskop
Stemi 508
6
ANHANG
6.1
Abkürzungsverzeichnis
BF
Bright field (Hellfeld)
DIN
Deutsche Industrienorm
DF
Dark field (Dunkelfeld)
EN
Europäische Norm
IEC
International Electrotechnical Commission
IP
Internal Protection (Schutzart durch das Gehäuse)
IvD
In-vitro Diagnostika
LED
Leuchtdiode (Light Emitting Diode)
RC
Reliefkontrast (Schräglicht)
S/W
Schwarz/weiß
UV
Ultraviolett
09/2017
ANHANG
Abkürzungsverzeichnis
435064-7144-008
ZEISS
37