Especificación - X-Rite i1 Pro Manuel De L'utilisateur

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Especificación
Mecanismo
espectral:
Rango espectral:
Intervalo de tomas de muestras:
Resolución óptica:
Registro espectral:
Frecuencia de medición en el modo
de digitalización:
Óptica:
Geometría de medición:
Abertura de medición:
Tamaño del punto de iluminación:
Fuente de luz:
Medición de la
reflectancia:
Condición de medición:
152
Tecnología i1® (red de difracción holográfica con matriz de diodos con
128 píxeles
380 - 730 nm
3,5 nm
10 nm
380 nm ... 730 nm en pasos de 10 nm
200 mediciones por segundo
45°/0°; óptica de iluminación circular, ISO 13655:2009
diámetro de 4,5 mm (0.18")
(la abertura de medición efectiva durante la digitalización depende del
tamaño de los parches y de la velocidad de medición)
3,5 mm (0.14")
lámpara de tungsteno en gas inerte (iluminante tipo A)
reflectancia espectral [adimensional]
Filtro de UV excluido - condición de medición M2 según ISO 13655:2009
Calibración:
Fondo de medición:
Espesor máximo del papel:
Dimensión mínima de los parches en
el modo de digitalización:
Correlación entre instrumentos:
Repetitividad a corto plazo:
Medición de la
emisión:
Rango de medición:
Repetitividad a corto plazo:
Medición de la
luz ambiente:
Interfaz:
manual sobre cerámica blanca de referencia externa
blanco, ISO 13655:2009, para mediciones sobre tablero de respaldo
3 mm (0.12") sobre el tablero de respaldo
10 mm x 10 mm (0,39" x 0,39" (anchura x altura)
0.4 ∆E94* promedio, 1.0 ∆E94* máximo
(desviación del estándar de fabricación de X-Rite a 23 °C (73.4°F)
basado en 12 cerámicas BCRA (D50, 2°))
0.1 ∆E94* sobre cerámica blanca (D50, 2°, promedio de 10 mediciones
del blanco a cada 3 segundos))
2
2
radiancia espectral [mW/nm/m
/sr], luminancia [cd/m
]
2
0,2 - 1200 cd/m
en un monitor LCD típico
2
x,y ±0.002 típica (5000 K, 80 cd/m
)
2
radiancia espectral [mW/nm/m
], iluminancia [lux] cabezal de medición
de la luz difusa corregido por coseno
USB 1.1
ES
153

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