Technische Daten - X-Rite i1 Pro Manuel De L'utilisateur

Technische Daten

Spektral­
technologie:
Spektralbereich
Physikalisches Messintervall
Optische Auflösung
Spektrale Auflösung
Messfrequenz im Scanmodus
Optik:
Messgeometrie
Messblende
Messfleckgröße
Lichtquelle
Reflexions­
messung:
Messbedingung
Kalibrierung:
62
i1 -Technologie (holografisches Beugungsgitter mit einem 128-Pixel-
®
Diodenraster)
380 - 730 nm
3,5 nm
10 nm
380 nm ... 730 nm mit 10 nm Intervall
200 Messungen pro Sekunden
45°/0°; Ringbeleuchtungsoptik, ISO 13655:2009
4,5 mm Durchmesser
(effektive Messblende während des Scans hängt von der Messfeldgröße
und Messgeschwindigkeit ab)
3,5 mm
Gasgefüllte Wolfram-Glühlampe (Typ A)
spektrale Reflexion (dimensionslos)
UVCut - ISO 13655:2009 Messung M2
Manuell auf externer Weißkachel
Messunterlage
Max. Bedruckstoffstärke
Min. Messfeldgröße im Scanmodus
Messgeräteübereinstimmungt
Kurzzeitwiederholgenauigkeit
Emissions­
messung
Messgeräteübereinstimmungt
Kurzzeitwiederholgenauigkeit
Umgebungs­
lichtmessung
Schnittstelle
weiß, ISO 13655:2009 bei Verwendung der mitgelieferten Messunterlage
3 mm auf der Messunterlage
10 x 10 mm (Breite x Höhe)
0,4 ∆E94* im Mittel, max. 1,0 ∆E94*
(Abweichung vom X-Rite Fertigungsstandard bei 23 °C im Einzelmessmo-
dus bei 12 BCRA-Kacheln (D50/2°))
0,1 ∆E94* auf weiß (D50/2°, Mittel aus 10 Messungen auf weiß alle 3 s )
2 2
Spektrale Radianz [mW/nm/m /sr], Luminanz [cd/m ]
2
0,2 - 1200 cd/m auf einem handelsüblichen LCD-Monitor
2
typ. x,y ±0,002 (5000 K, 80 cd/m )
2
Spektrale Irradianz [mW/nm/m ], Luminanz [Lux]
Messkopf für diffuses Licht mit Kosinuskorrektur
USB 1.1
DE
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