Specifica - X-Rite i1 Pro Manuel De L'utilisateur

Specifica

Meccanismo
spettrale:
Intervallo spettrale:
Intervallo fisico di campionamento:
Risoluzione ottica:
Rapporto spettrale:
Frequenza di misurazione in modalità
di scansione:
Gruppo ottico: Geometria di misurazione:
Apertura di misurazione:
Dimensione punto d'illuminazione:
Fonte di luce:
Misurazione
della
riflettanza:
Condizione di misurazione:
122
Tecnologia i1® (reticolo a diffrazione olografica con matrice di fotodiodi
128 pixel)
380 - 730 nm
3,5 nm
10 nm
380 nm ... 730 nm in passi di 10 nm
200 misurazioni per secondo
45°/0° ottica d'illuminazione circolare, ISO 13655:2009
Diametro di 4,5 mm (0.18")
(l'apertura di misurazione reale durante la scansione dipende dalle
dimensioni dei patch e dalla velocità di misurazione)
3,5 mm (0.14")
lampada al tungsteno con gas inerte (illuminante tipo A)
riflettanza spettrale [adimensionale]
Filtro UV escluso - ISO 13655:2009 condizione di misurazione M2
Calibrazione:
Sfondo di misurazione:
Spessore massimo della carta:
Dimensioni minime dei patch in
modalità di scansione:
Concordanza interstrumentale:
Ripetibilità a breve termine:
Misurazione
dell'emissione:
Intervallo di misurazione:
Ripetibilità a breve termine:
Misurazione
della luce
ambiente:
Interfaccia:
manuale su riferimento ceramico bianco
bianco, ISO 13655:2009; per misurazioni sulla base di appoggio
3 mm (0.12") sulla base di appoggio
10 mm x 10 mm (0,39" x 0,39") (larghezza x altezza)
media di 0.4 ∆E94*, massima di 1.0 ∆E94*
(deviazione dallo standard di fabbricazione X-Rite a 23 °C (73.4 °F) su 12
ceramiche BCRA (D50, 2°))
0.1 ∆E94* su bianco (D50, 2° rispetto al valore medio di 10 misurazioni
ogni 3 secondi su bianco)
2 2
radianza spettrale (mW/nm/m /sr); luminanza (cd/m )
2
0,2 - 1200 cd/m su un monitor LCD tipico
2
x,y ±0.002 tipica (5000 K, 80 cd/m )
2
radianza spettrale (mW/nm/m ); illuminanza [lux] testina di misurazione
della luce diffusa organizzata da coseno
USB 1.1
IT
123