技术规格 - X-Rite i1 Pro Manuel De L'utilisateur

技术规格
光谱引擎：
光谱范围：
物理取样间隔：
光学分辨率：
反射光谱曲线报告:
扫描模式下的测量频率：
光学特性： 测量几何设备：
测量光圈：
光斑大小：
光源：
反射系数测量：
测量条件：
校准：
测量背景：
最大媒介厚度：
242
i1®技术（全息衍射光栅，采用 128 像素二极管阵列）
380 - 730 纳米
3.5 纳米
10 纳米
380 纳米 ...730 纳米（10 纳米步进）
200 次/秒
45°/0° 环形照明光学元件，ISO 13655:2009
4.5 毫米 (0.18")直径(扫描时有效测量光圈取决于色块的
尺寸和测量速度)
3.5 毫米 (0.14")
充气钨丝灯（光源 A 类）
光谱反射率[无穷小]
不包含 UV 滤镜 - ISO 13655:2009 测量条件 M2
在外部白色参考陶瓷片上手动进行
白色，ISO 13655:2009；在垫板上测量
在垫板上 3 毫米 (0.12")
扫描模式下的最小色块尺寸：
仪器间协定值：
短期重复性：
辐射测量：
测量范围：
短期重复性：
周围光源测量：
接口：
CN
10 x 10 mm (0.39" x 0.39")（宽 x 长）
平均 0.4 ∆E94最大1.0 ∆E94（23°C（73,4°F）时，
在爱色丽生产标准条件下，使用 12 块 BCRA 色板 (D50,
2°) 产生的偏差）
0.1 ∆E94白色(D50,2°,意味着每隔 3 秒测量一次白色，
取 10 次的平均值)
2 2
光谱辐射亮度 [mW/nm/m /sr]，亮度 [cd/m ]2]
2
0.2 - 1200 cd/m 在典型 LCD 显示器上
2
x,y ±0.002 typ.(5000 K, 80 cd/m )
2
光谱辐射照度 [mW/nm/m ]，照度 [lux] 余弦校正光线
散射测量头
USB 1.1
243