Table des Matières
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Appendice C : Vue d'ensemble de la spectrométrie
de fluorescence X
La spectrométrie de fluorescence X permet d'analyser la composition chimique d'un
matériau. Elle permet non seulement d'identifier les éléments chimiques présents
dans une substance, mais aussi d'en déterminer la quantité. Selon cette méthode, la
nature d'un élément chimique est déterminée par l'analyse dispersive en énergie (E)
des rayons X. La quantité d'un élément présent est déterminée par la mesure de
l'intensité de sa ligne caractéristique.
Selon la technologie par spectrométrie de fluorescence X, les échantillons analysés
sont bombardés de photons X primaires émis à partir d'une source donnée (tube à
rayons X). Les photons X primaires contiennent suffisamment d'énergie pour arracher
un électron des couches internes. Un électron d'un niveau plus élevé vient occuper la
place laissée vacante dans la couche électronique intérieure. Par conséquent, des
électrons des couches plus externes que celles d'où ont été éjectés les électrons (L ou
M) vont venir combler les trous. Ainsi, ces électrons libèrent la différence d'énergie
entre les couches de départ et d'arrivée de l'électron, sous forme de rayonnement
électromagnétique secondaire (photons X).
C'est ce qu'on appelle la théorie de l'émission des rayons X de fluorescence (voir
Figure C-1 à la page 142). Cette fluorescence secondaire est propre à chaque élément
chimique.
Vue d'ensemble de la spectrométrie de fluorescence X
DMTA-10072-01FR, Rév. F, Mai 2020
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