Olympus Vanta Série Manuel De L'utilisateur page 100

DMTA-10072-01FR, Rév. F, Mai 2020
NOTE
N'utilisez aucun abrasif à base de silice pour sabler les matériaux revêtus lorsque
vous effectuez une analyse de silicium.
Il n'est probablement pas nécessaire de nettoyer et de meuler complètement tous les
matériaux. Retirez tout de même toute poussière de métal évidente.
Échantillons mélangés, matériaux hétérogènes
Les pièces métalliques finies peuvent être constituées de plus d'un type de métal. En
outre, vous voudrez peut-être analyser des tournures mélangées ou encore, un
assortiment de petites pièces. En pareils cas, souvenez-vous que l'appareil analyse la
totalité de la zone couverte par la fenêtre de mesure, et indique ensuite la composition
chimique moyenne.
NOTE
Lorsque vous analysez des pièces de métal ou des soudures, assurez-vous que seul le
métal recherché couvre la fenêtre de mesure.
Petits échantillons de forme complexe
Pour mesurer des échantillons plus petits que la fenêtre de mesure, assurez-vous de
respecter les recommandations suivantes :
• Augmentez le temps d'analyse.
• Maximisez le contact du matériau avec la fenêtre de la sonde.
Comme le signal pour les petits échantillons est moins intense que celui des
échantillons couvrant toute la fenêtre de mesure, la précision d'analyse pour les
petites pièces s'en trouve réduite. Dans la mesure du possible, lorsque vous analysez
un objet à géométrie complexe, faites-le à partir de son côté le plus grand et le plus
plat.
NOTE
• Évitez que des petits objets pointus ne perforent la fenêtre de mesure; ils peuvent
occasionner des bris coûteux à réparer.
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