Fonctionnement En Mode Impact Électronique (Ei); Agilent Technologies - Agilent DDM 5975 Série Manuel D'utilisation

Agilent 5975 Série DDM
Manuel d'utilisation
3
Fonctionnement en mode impact
électronique (EI)
Exploitation du DDM depuis le système d'acquisition de données
Exploitation du DDM depuis le tableau de commande local (LCP)
Messages d'état du LCP
Menus LCP 55
Interface CPG/DDM EI
Avant de mettre le DDM en marche
Mise sous vide 62
Commande des températures
Commande du débit de la colonne
Mise à l'air du DDM 64
Pour afficher la température et de l'état du vide du MSD en mode de réglage
manuel 65
Configuration des fenêtres de surveillance des températures et de l'état
du vide du MSD 67
Pour définir les températures de l'analyseur dans la vue de commande
« Instrument Control »
Configuration des fenêtres de surveillance des températures et de l'état
du vide du MSD 67
Pour surveiller la pression du vide secondaire
Étalonnage de la vitesse linéaire du gaz vecteur dans la colonne
Pour régler le MSD en mode EI
Pour vérifier les performances du système
Pour effectuer un test aux masses élevées (MSD série 5977)
Dépose des capots du DDM
Mise à la pression atmosphérique du MSD
Ouverture de l'enceinte de l'analyseur
Fermeture de l'enceinte de l'analyseur
our mettre le MSD sous vide en mode EI
Transport et entreposage du DDM
Réglage de la température de l'interface CPG/DDM depuis le CPG

Agilent Technologies

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