Chapitre 2 Définition et maintenance des composants
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Résistance gâchette-cathode des SCR
Un test de résistance entre la gâchette et la cathode peut être réalisé sur les
SCR, mais pas sur les SGCT. La mesure de cette résistance permet d'identifier
les dommages subis par un thyristor SCR en repérant une connexion ouverte
ou court-circuitée entre la gâchette et la cathode. Pour tester la résistance
gâchette-cathode d'un thyristor SCR, débrancher les fils de gâchette reliés à la
carte de commande de gâchette auto-alimentée et effectuer la mesure au niveau
du connecteur Phœnix de la carte d'allumage du SCR.
Figure 75 - Test gâchette-cathode des SCR
Débrancher le
connecteur
Phoenix du SCR
de la carte
Points de test entre gâchette et cathode
La valeur de résistance gâchette-cathode doit être comprise entre 10 et 20 Ω.
Une valeur proche de 0 Ω indique la présence d'un court-circuit interne dans le
thyristor SCR. Une valeur extrêmement élevée indique que la liaison de
gâchette du composant est coupée.
Si un test gâchette-cathode révèle qu'un thyristor SCR est endommagé, voir
page 97
pour la procédure de remplacement du SCR.
Publication Rockwell Automation 7000-UM202F-FR-P - Février 2020