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MI 3321 MultiservicerXA
Paramètres pour tests et mesures de DDR
TEST
Test des fonctions du DDR
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IDN
Sensibilité du courant nominal résiduel du DDR I
mA, 300 mA, 500 mA, 1000 mA]
MULTI
Multiplicateur de Idn [½, 1, 2, 5]
TYPE
Type de DDR [AC, A, B*, AC_S, A_S, B_S*]
PHASE
Phase de démarrage [(+), (-)]
Le MI 3321 est destiné à tester les DDR normaux (non retardés) et S électifs (retardés),
adaptés au :
Courant résiduel alternatif (type AC)
Courant résiduel pulsé (type A)
Courant résiduel DC (B type)*
* Instruments HW version 3.0 ou ultérieure
Les DDR retardés ont des caractéristiques de réponse retardées. Le test préalable de
tension de contact peut influencer le temps de déclenchement des DDR retardés. Par
conséquent, un retard de 30 s est ajouté avant d'effectuer le test de déclenchement.
DDR T : Temps de déclenchement
DDR I : Courant de déclenchement
UC : Tension de contact
AUTO
Mode d'utilisation pour test de machines
121
[10 mA, 30 mA, 100
∆N
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