Annexe C: Description des avertissements et
. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
#
Avertissement/
Erreur
800
Avertissement
801
Avertissement
802
Avertissement
2500
Avertissement
3100
Avertissement
3102
Avertissement
4000–
Erreur
4299
5000
Erreur
Analyseurs COT Sievers M500e
DLM 78510-01 FR Rev. A
des erreurs
Nom
Cellule
La lecture analogique de la conductivité de l'échantillon est
d'échantillon
hors plage.
(Sample Cell)
Se produit lorsque l'on mesure la conductivité d'un échantillon, et
les lectures sont insuffisantes pour pouvoir calculer la conductivité
d'échantillon.
Cellule
La température de la conductivité de l'échantillon est hors
d'échantillon
plage.
(Sample Cell)
Se produit lorsque l'on mesure la conductivité d'un échantillon, et
les lectures sont insuffisantes pour pouvoir calculer la conductivité
d'échantillon.
Cellule
La porte de l'analyseur est ouverte.
d'échantillon
Se produit pendant le protocole de vérification de la résistance
(Sample Cell)
lorsque la porte de l'instrument est ouverte.
Mémoire flash
Erreur de mémoire flash, une valeur non valide a été obtenue.
(Flash Memory)
Se produit lorsque les constantes suivantes sont inférieures à 0,1 :
•
•
•
•
Boucle DI (DI
Niveau de la boucle DI inattendu
Loop)
Peut se produire après la mise sous tension de l'analyseur et/ou à
chaque fois qu'un protocole est lancé.
Flux DI - CI
Flux DI sur le canal CI/CT non détecté.
(DI flow - IC)
Se produit lors des mesures de CI/CT.
Erreur RTOS
Erreur RTOS continue
Vérification de
L'instrument est incapable de se calibrer. Veuillez contacter le
l'étalonnage
support technique ou votre fournisseur de services local.
Se produit pendant les protocoles d'étalonnage lorsqu'un calcul
d'étalonnage ne peut être effectué en raison d'une tentative de
réalisation d'une opération mathématique non valide.
C
CT, CI, ou les constantes des cellules de l'échantillon
Pente CI ou CT PPT
Pente COT MP
Pente de Conductivité MP
345 / 377
Description
Manuel d'utilisation et de maintenance
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