Rockwell Automation Allen-Bradley 1791ES-IB8XOBV4 Manuel Utilisateur page 64

Chapitre 4 Exemples de câblage
Figure 24 – Surveillance bimanuelle
1 – Alimentation de sortie
2 – Alimentation d' e ntrée
3 – Commun d' e ntrée
4 – Commun de sortie
Configuration d'automate
Entrée de sécurité 0
Entrée de sécurité 1
Entrée de sécurité 2
Entrée de sécurité 3
Sortie de test 0
Sortie de test 1
64
Modules 1791ES
E1
In + In -
Modules 1732ES
E1
4 2
3 1
Nom du paramètre
Mode de la voie d' e ntrée de sécurité 0
Source de test de l' e ntrée de sécurité 0
Mode de l' e ntrée de sécurité 0/1 double voie
Temps de discordance de l' e ntrée de sécurité 0/1 double voie
Mode de la voie d' e ntrée de sécurité 1
Source de test de l' e ntrée de sécurité 1
Mode de la voie d' e ntrée de sécurité 2
Source de test de l' e ntrée de sécurité 2
Mode de l' e ntrée de sécurité 2/3 double voie
Temps de discordance de l' e ntrée de sécurité 2/3 double voie
Mode de la voie d' e ntrée de sécurité 3
Source de test de l' e ntrée de sécurité 3
Mode de la sortie de test 0
Mode de la sortie de test 1
Cet exemple illustre le câblage et la configuration d'automate lorsque le module
Guard I/O est utilisé. En cas d'utilisation conjointe avec les programmes d'un
automate de sécurité, ce câblage est classé en catégorie 4 conformément aux
exigences de câblage de la norme ISO 13849-1:2008.
Publication Rockwell Automation 1791ES-UM001F-FR-P – Juillet 2015
FE I0 I1 T0 T1
S11
1 – Sortie de test 1 1 – Sortie de test 3
2 – Entrée 1 2 – Entrée 3
3 – Commun d' e ntrée 3 – Commun d' e ntrée
4 – Entrée 0 4 – Entrée 2
5 – Sortie de test 0 5 – Sortie de test 2
1 2
5
4 3
S11
I2 I3 T2 T3M
S12
1 2
5
4 3
S12
Réglage de configuration
Impulsion de test depuis sortie de test
Sortie de test 0
Complémentaire double voie
100 ms (selon l'application)
Impulsion de test depuis sortie de test
Sortie de test 1
Impulsion de test depuis sortie de test
Sortie de test 0
Complémentaire double voie
100 ms (selon l'application)
Impulsion de test depuis sortie de test
Sortie de test 1
Sortie de test par impulsion
Sortie de test par impulsion