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5.1.5 Support de porte-échantillon orientable
Le dispositif de serrage rapide (29) du support de porte-échantillon orientable peut re-
cevoir toutes les pinces à objet disponibles en tant qu'accessoires.
30
32
Leica SM2010 R
L'orientation de l'objet permet de corriger aisé-
29
ment la position de la surface de l'échantillon un
fois l'échantillon monté.
Orientation de l'échantillon
• Pour desserrer le levier d'excentrique (34), le
tourner vers le haut (jusqu'au point d'enclen-
chement détectable).
Attention ! Si vous continuez à le tourner vers la
31
gauche, l'orientation sera à nouveau bloquée !
• Tourner la vis de réglage (30) pour orienter
34
l'échantillon dans le sens de la coupe. Tourner
la vis de réglage (31) pour orienter l'échantillon
perpendiculairement au sens de la coupe.
À chaque tour de vis complet, l'échantillon
s'incline de 2°. Il est possible de réaliser
4 tours complets dans chaque sens (8°).
Exactitude : ± 0,5°.
Un point d'enclenchement détectable après
chaque tour complet de la vis de réglage
permet une meilleure estimation.
• Pour conserver l'orientation actuelle, tourner
le levier excentrique (34) dans le sens inverse.
Affichage de la position zéro
Afin de mieux visualiser la position zéro, chaque vis
de réglage (30, 31) possède un repère rouge (32).
Quand les deux repères sont visibles et que les
deux vis de réglage sont en position zéro (point
Fig. 26
d'enclenchement !, l'orientation de l'objet se
trouve en position zéro (0°).
5.
Fonctionnement
23
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