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5.1.5 Support de porte-échantillon orientable
Le dispositif de serrage rapide (29) du support de porte-échantillon orientable peut recevoir
toutes les pinces à objet disponibles en tant qu'accessoires.
30
32
Leica SM2010 R
L'orientation de l'objet permet de corriger aisé-
29
ment la position de la surface de l'échantillon
un fois l'échantillon monté.
Orientation de l'échantillon
• Pour desserrer le levier d'excentrique (34),
le tourner vers le haut (jusqu'au point d'en-
clenchement détectable).
Attention ! Si vous continuez à le tourner
31
vers la gauche, l'orientation sera à nouveau
bloquée !
34
• Tourner la vis de réglage (30) pour orienter
l'échantillon dans le sens de la coupe. Tourner
la vis de réglage (31) pour orienter l'échantillon
perpendiculairement au sens de la coupe.
À chaque tour de vis complet, l'échantillon
s'incline de 2°. Il est possible de réaliser
4 tours complets dans chaque sens (8°).
Exactitude : ± 0,5°.
Un point d'enclenchement détectable après
chaque tour complet de la vis de réglage per-
met une meilleure estimation.
• Pour conserver l'orientation actuelle, tourner
le levier excentrique (34) dans le sens inverse.
Affichage de la position zéro
Afin de mieux visualiser la position zéro, chaque vis
de réglage (30, 31) possède un repère rouge (32).
Quand les deux repères sont visibles et que les
deux vis de réglage sont en position zéro (point
d'enclenchement !), l'orientation de l'objet se trou-
Fig. 26
ve en position zéro (0°).
5. Fonctionnement
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