Dräger X-am 5000 Notice D'utilisation page 170

Masquer les pouces Voir aussi pour X-am 5000:
Table des Matières

Publicité

Les langues disponibles
  • FR

Les langues disponibles

  • FRANÇAIS, page 31
Zasada pomiaru
Czas ustalenia wartości pomiarowej t
Czas ustalenia wartości pomiarowej t
Zakres pomiarowy
Odchyłka od punktu zerowego (EN
45544)
6)
Zakres rejestracji
Dryft urządzenia
Czas nagrzewania
Wpływ trucizn,
siarkowodoru H
S, 10 ppm
2
węglowodorów halogenowych, metali
ciężkich, substancji zawierających
silikony, siarkę lub poddających się
polimeryzacji
Błąd liniowości
Normy
(funkcja pomiarowa ochrony przed
wybuchem oraz pomiar braku i nadmiaru
tlenu, a także gazów toksycznych,
DEKRA EXAM GmbH, Essen, Niemcy:
3)
BVS 10 ATEX E 080 X
,
PFG 10 G 001 X)
8)
Czułości skrośne
170
XXS H
S-LC
2
elektrochemicznie
18 sekund
0...90
6 sekund
0...50
11)
Od 0 do 100 ppm H
S
2
0,4 ppm
+/- 0,4 ppm
1 % wartości pomiarowej/
miesięcznie
5 minut
– – –
-
2 %
wartości pomiarowej
EN 45544-1/-2
EN 50271
10)
występują
XXS CO
elektrochemicznie
25 sekund
12 sekund
12)
Od 0 do 2000 ppm CO
Od 0 do 2000 ppm CO
6 ppm
+/- 6 ppm
1 % wartości pomiarowej/
1 % wartości pomiarowej/
miesięcznie
5 minut
– – –
3 %
wartości pomiarowej
EN 45544-1/-2
EN 50271
13)
występują
XXS CO-LC
elektrochemicznie
25 sekund
12 sekund
12)
1 ppm
+/-1 ppm
miesięcznie
5 minut
– – –
2 %
wartości pomiarowej
EN 45544-1/-2
EN 50271
13)
występują

Publicité

Table des Matières
loading

Table des Matières