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SICK microScan3 Core I/O Notice D'instructions page 28

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4
CONCEPTION
4.3.1
Protection contre les interférences
28
N O T I C E D ' I N S T R U C T I O N S | microScan3 Core I/O
Illustration 16 : empêcher tout passage au-dessous
Illustration 17 : empêcher tout passage au-dessus
Thèmes associés
« Montage », page 71
Un scrutateur laser de sécurité peut être perturbé par les rayons d'une autre source
laser située à proximité, p. ex. par un autre scrutateur laser. Cela peut nuire à la
disponibilité de la machine, à savoir, le scrutateur laser de sécurité concerné désactive
la machine bien que personne ne se trouve dans le champ de protection.
Un scrutateur laser de sécurité peut être ébloui par une source de lumière extrême‐
ment forte dans le plan de scrutation. Cela peut nuire à la disponibilité de la machine,
c'est-à-dire que le scrutateur laser de sécurité arrête la machine alors qu'aucune per‐
sonne ne se trouve dans le champ de protection.
Les mesures suivantes permettent d'accroître la disponibilité :
Le scrutateur laser de sécurité est doté d'une fonction de protection contre les
interférences. La durée du cycle de balayage est adaptée en petites étapes.
Il est possible d'accroître la disponibilité en sélectionnant différents modes de
protection contre les interférences sur les scrutateurs laser de sécurité voisins,
voir « Protection supplémentaire contre les interférences », page
Un nombre accru de balayages réduit le risque de perturbation du scrutateur laser
de sécurité par une source laser. Il est possible d'augmenter la disponibilité en
réglant le nombre de balayages sur la plus grande valeur possible pour votre
application tout en prenant en compte les distances minimales,
balayages », page
92.
La disponibilité peut être encore augmentée en choisissant un type de montage
adapté,
voir « Types de montage pour la protection contre les perturbations provo‐
quées par des systèmes situés à proximité », page
Évitez les sources de lumière externes au niveau du plan de scrutation. Montez le
scrutateur laser de sécurité de façon à ce qu'il ne puisse pas être ébloui par des
rayons incidents du soleil. N'agencez directement les projecteurs halogènes, les
sources de lumière infrarouge et les stroboscopes sur le plan de scrutation.
94.
voir « Nombre de
182.
8016347/1NTM/2024-06-03 | SICK
Sujet à modification sans préavis

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