SICK microScan3 Core I/O Notice D'instructions page 160

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CARACTÉRISTIQUES TECHNIQUES
13.5 Chronologie des tests d'OSSD
160 N O T I C E D ' I N S T R U C T I O N S | microScan3 Core I/O
Paire d'OSSD 1 : t
°
Tableau 37 : Temps de réponse d'un scrutateur laser de sécurité
Durée du cycle de Protection contre les
balayage (t ) interférences (t
S
30 ms Mode 1
Mode 2
Mode 3
Mode 4
40 ms Mode 1
Mode 2
Mode 3
Mode 4
50 ms Mode 1
Le scrutateur laser de sécurité teste les OSSD par intervalles réguliers. Pour cela, le
scrutateur laser de sécurité fait passer brièvement (pour max. 300 μs) à l'état INACTIF
chaque OSSD active et vérifie si ce canal est exempt de tension pendant ce temps.
Assurez-vous que la commande de la machine ne réagit pas à ces impulsions de test et
que la machine n'est pas hors tension.
t t t
S S S
V
OSSD 1.A
V
OSSD 1.B
Illustration 81 : Tests de désactivation
t Durée du cycle de balayage
S
• Réglage « 30 ms » : t
• Réglage « 40 ms » : t
• Réglage « 50 ms » : t
= 10 ms
O
Sortie (t )
O
)
I
0 ms Paire d'OSSD 1
1 ms Paire d'OSSD 1
2 ms Paire d'OSSD 1
3 ms Paire d'OSSD 1
0 ms Paire d'OSSD 1
1 ms Paire d'OSSD 1
2 ms Paire d'OSSD 1
3 ms Paire d'OSSD 1
0 ms Paire d'OSSD 1
t t t
S S S
= 30 ms
S
= 40 ms
S
= 50 ms
S
t = temps de réponse
R
pour un nombre n de
balayages
n × 30 ms + 10 ms
n × 31 ms + 10 ms
n × 32 ms + 10 ms
n × 33 ms + 10 ms
n × 40 ms + 10 ms
n × 41 ms + 10 ms
n × 42 ms + 10 ms
n × 43 ms + 10 ms
n × 50 ms + 10 ms
t t t
S S S
t
t
8016347/1NTM/2024-06-03 | SICK
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