Publicité
MI3152
Menu d'organisation de la mémoire. .......................................................................... 44
5.1
5.1.1 États des mesures ................................................................................................. 44
5.1.2 Éléments de structure............................................................................................ 45
5.1.3 Opérations dans l'arborescence ............................................................................ 46
6
Tests Uniques ................................................................................................................. 66
6.1
Modes de sélection. .................................................................................................. 66
6.1.1 Ecrans du Test Unique. ......................................................................................... 67
6.1.2 Configurer les paramètres et les limites des Tests Uniques................................... 69
6.1.3 Ecran de début du test unique. .............................................................................. 70
6.1.4 Ecran du test unique pendant la mesure. .............................................................. 71
6.1.5 Ecran de résultat du test unique ............................................................................ 72
6.1.6 Editer des graphiques (Harmoniques) ................................................................... 74
6.1.7 Écrans d'aide. ....................................................................................................... 75
6.1.8 Écran de rappel des résultats de Test Unique. ...................................................... 76
7
Tests et Mesures. ............................................................................................................ 77
7.1
Tension, fréquence et ordre des phases. .................................................................. 77
R iso – résistance d'isolement ................................................................................... 80
7.2
R low – Connexion de résistance de terre et liaison équipotentielle. ........................ 82
7.3
Continuité – Mesure de résistance continue avec faible courant. .............................. 84
7.4
7.4.1 Calibrer la résistance des câbles de test. .............................................................. 85
7.5
Test des DDR. ........................................................................................................... 87
7.5.1 DDR Uc – Tension de contact ............................................................................... 88
7.5.2 DDR t – Temps de déclenchement ........................................................................ 89
7.5.3 DDR I – Courant de déclenchement ...................................................................... 90
DDR Auto – Test automatique de DDR. .................................................................... 91
7.6
Z loop – Impédance de boucle de défaut et mesure de terre sans piquets. ............... 94
7.7
Zs ddr – Impédance de boucle de défaut et mesure de terre sans piquets avec le
7.8
DDR. 96
Z loop m – Impédance de boucle de défaut de haute précision et courant de défaut
7.9
éventuel. ............................................................................................................................... 98
Z line – Impédance de ligne et courant de court-circuit éventuel. ............................ 100
7.10
Z line m – Impédance de ligne de haute précision et courant de court-circuit
7.11
éventuel. ............................................................................................................................. 102
7.12
Chute de tension ..................................................................................................... 105
Terre – Résistance de terre (Test 3 fils) .................................................................. 108
7.13
Terre 2 pinces – Mesure de résistance de terre sans contact (avec 2 pinces de
7.14
courant) .............................................................................................................................. 110
Ro – Résistance de terre spécifique ........................................................................ 112
7.15
7.16
Puissance ............................................................................................................... 114
7.17
Harmoniques ........................................................................................................... 116
7.18
Courants ................................................................................................................. 118
ISFL – Premier défaut de courant de fuite ............................................................... 120
7.19
CPI – Test de contrôleur permanent d'isolement. .................................................... 122
7.20
Rpe – Résistance du conducteur PE ....................................................................... 126
7.21
7.22
Éclairement ............................................................................................................. 128
8
Tests Automatiques ...................................................................................................... 130
AUTO TT – Séquence de test automatique pour un système de terre TT. .............. 131
8.1
AUTO TN (DDR) –Séquence de test automatique pour un système de terre TN avec
8.2
DDR. 133
AUTO TN – Séquence de test automatique pour un système de terre TN sans DDR.
8.3
135
AUTO IT – Séquence de test automatique pour un système de terre IT. ................. 137
8.4
4
Description générale
Publicité
