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7.
Test de boucle d'impédance
IMPORTANT
Cette mesure nécessite que les deux sélecteurs des MFT1825 et 1835, ou seulement celui de gauche sur le MFT1815, soient réglés sur
le mode de test de boucle (PLAGES VERTE).
Ce test est effectué sous tension. Toutes les précautions relatives aux interventions sur des circuits sous tension devront être prises
pour garantir la sécurité de l'opérateur et des autres membres du personnel.
Présentation générale du test de BOUCLE D'IMPEDANCE
Un test d'impédance de boucle est la mesure de l'impédance d'un circuit lorsque celui-ci est sous tension.
À la différence d'un test de continuité, un test d'impédance de boucle applique une charge au circuit et mesure la variation de la
tension du circuit, à partir de laquelle la "résistance" de la boucle est calculée.
Pour les circuits protégés par un disjoncteur différentiel (DDR), la charge connectée de la phase à la terre doit être assez faible pour
ne pas déclencher le DDR. Par conséquent, de nombreux tests devront être effectués afin d'établir l'impédance de boucle du circuit.
Ceux-ci sont effectués automatiquement et le résultat final est affiché.
Compensation de résistance des cordons de test :
Pour ce test, il n'est pas nécessaire de compenser la résistance des cordons de test du MFT. Ils sont déjà étalonnés à 0.07 Ω dans le
circuit de mesure.
Cependant, si des cordons à fusible ou des cordons de parties tierces sont utilisés, leur résistance peut être différente. Dans ce cas,
leur valeur peut être mesurée au moyen du test de continuité et être compensée dans les options de CONFIGURATION (voir Chapitre
10).
Connexion du circuit :
Le MFT est conçu pour tester les sections L-PE et L-N (et L-L) du circuit. La sélection de la plage L-PE sur le MFT permet de tester le
circuit phase-terre, comme décrit ci-dessous :
7.1
Sélection de la plage et cordons de test
7.1.1
Circuits de phase à la terre L-E :
Position du sélecteur de plage et connexion des cordons de test :
L-PE sélectionné
Le sélecteur de droite est positionné sur n'importe quelle plage "RCD " (DDR) ou "Re".
La connexion du 3ème cordon (bleu) active le test de boucle à 3 fils 3Lo et la "détection d'inversion de polarité".
Options de tests en mode L-PE :
La gamme MFT1800 offre 3 types de tests de boucle en mode L-PE :
3Lo – Test d'impédance de boucle à 3 fils à faible intensité. Ce test nécessite les trois connexions.
Où l'utiliser :
Pour effectuer des mesures L-E sur les circuits sur lesquels les trois conducteurs sont disponibles ET le circuit phase-terre est protégé
par un DDR.
NÉCESSITE LA CONNEXION DES TROIS CORDONS DE TESTS
2Hi – Test à 2 fils à haute intensité. Test rapide de 3-4 secondes utilisant des courants de test élevés.
Où l'utiliser :
Sur TOUS les circuits, sauf pour les mesures phase-terre sur les circuits protégés par un DDR.
2Lo - Test de boucle à 2 fils à faible intensité pour les mesures L-E lorsque le 3ème conducteur n'est pas disponible.
Où l'utiliser :
12
Test effectué
Sur les circuits protégés par un DDR lorsqu'il n'est pas possible d'accéder aux trois conducteurs.
Remarque : Le test 2Lo n'est pas disponible quand les trois cordons sont connectés, car le 3Lo est alors le mode de mesure préféré.
Sélection du mode de test :
Pour basculer entre les divers modes de tests de boucle, appuyez sur la touche <-> comme montré ci-dessous.
Appuyez sur la touche de fonction
<-> pour changer entre 3Lo, 2Hi
et 2Lo
Le mode de test s'affiche comme suit :
Mode par défaut
1er appui
Remarque : Les DDR peuvent toujours se déclencher lors de l'exécution d'un test de boucle "sans déclenchement" si un
courant de défaut très élevé est détecté dans le conducteur de terre, ou si le DDR n'est pas calibré correctement.
7.1.2
Circuits L-N ou L-L :
L-N (ou L-L) sélectionné
Options de tests en mode L-N (L-L) :
La gamme MFT1800 offre un type de tests de boucle en mode L-N (L-L) :
2Hi – Test à 2 fils à haute intensité. Test rapide de 3-4 secondes utilisant des courants de test élevés.
Où l'utiliser :
Sur TOUS les circuits, sauf pour les mesures phase-terre sur les circuits protégés par un DDR
2ème appui
Test effectué
13
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