8.6
Test à 5 x I nominale (avec déclenchement pour DDR calibrés à 30 mA)
Répéter la séquence test du paragraphe 8.5 mais avec le sélecteur rotatif du cadran de GAUCHE positionné sur la plage de test
DDR.
.1
Appuyer sur le bouton de mode
.2
Appuyer sur la touche TEST.
L'écran devrait afficher l'une des indications suivantes :
??? ms*
=
DDR déclenché
> 40 ms
=
Échec test DDR (pas de déclenchement)
* n'importe quelle valeur inférieure à 40 ms indique que le DDR a déclenché dans un temps non acceptable.
.3
Appuyer sur le bouton de mode
.4
Répéter le test précédent.
Enregistrer la valeur la plus élevée des deux.
8.7
Test rampe
Le courant de déclenchement du DDR est mesuré en appliquant un courant de test de la moitié de l'intensité nominale de déclenchement
et en l'augmentant de 30% à 110% de l'intensité nominale du dispositif par intervalles de 300 ms (500 ms pour les DDR de type S).
Lorsque le DDR se déclenche, l'intensité de courant correspondante est enregistrée et affichée (en mA).
Effectuer une mesure
.1
Sélectionner la valeur de calibrage appropriée pour le DDR sur le cadran droit (
.2
Sélectionner le test à RAMPE à l'aide du bouton rotatif du cadran de gauche et appuyer sur le bouton TEST.
À un moment, le DDR devrait déclencher et l'écran indiquera alors la valeur de courant correspondante en mA.
Si le DDR ne se déclenche pas, « >***mA » s'affiche.
8.8
Test à rampe rapide
(série MFT1800 seulement)
Le test à rampe rapide peut être sélectionné dans les options de configuration (Cf. Chapitre 10)
Le test à rampe rapide vérifie que le DDR déclenche bien entre ½ I et 1xI fois l'intensité nominale de déclenchement du DDR. Ceci
permet des tests plus rapides et des courants plus élevés peuvent être utilisés sans risque de surchauffe de l'appareil. La durée de
chaque échelon de la rampe est inférieure aux 300 ms qu'impose la norme EN 61557.. À ce titre, ce test ne doit pas être utilisé si la
conformité à cette norme est exigée.
La procédure est la même que pour le test à rampe standard.
8.9
Test DDR type A (sensible C.C.)
Les DDR de « type A » sont sensibles aux courants C.C. pulsatoires, de même qu'aux courants de défaut C.A Ils sont testés à l'aide
d'une forme d'onde de type pulsatoire. L'intensité effective de test est égal à √2 x fois la valeur de son intensité de service. De même
qu'avec les DDR normaux, les tests doivent être effectué pour les polarités correspondant à 0° et 180°.
.1
Pour sélectionner un DDR de type A, se reporter au paragraphe 8.2.
Ces dispositifs se testent exactement de la même façon que ceux décrits dans les paragraphes 8.3 à 8.6 ci-dessus.
8.10
Test DDR type B (C.C. pur)
Les DDR de 'type B' sont sensibles aux courants de défaut c.c. purs, ainsi qu'aux courants pulsés c.a. et aux courants de défaut c.a.
ordinaires. Ils doivent d'abord être testés en tant que type c.a., puis en tant que type A et enfin en tant que type B, à l'aide d'un
ourant de test c.c. pur.
Les DDR de type 'B' sont testés seulement dans la plage 1xl. Le résultat est affiché en milliampère (mA).
.1
Testez le DDR en mode 'type A' en 1/2xl, 1xl et 5xl, si c'est un DDR de 30 mA. Testez-le en 1xl seulement s'il est >
30 mA.
.2
Pour sélectionner un DDR de type B, appuyez plusieurs fois sur la touche de fonction <-> jusqu'à ce que le
symbole
s'affiche.
.3
Raccordez les bornes rouge L1, verte L2, et bleue L3 du MFT aux bornes phase, neutre et terre du DDR comme
montré ci-dessous (les DDR 'type AC' et 'type A' ne nécessitent que les raccordements à la phase et à la terre).
22
pour sélectionner 0°.
pour sélectionner 180°.
= 30 mA etc.)
DDR type 'B'
DDR
t ype
' B'
.4
Sélectionnez la plage 1xl sur le sélecteur gauche et la gamme de courant du DDR sur le sélecteur droit.
.5
Appuyez sur TEST.
.6
Le DDR doit se déclencher et l'écran affiche la valeur de courant correspondante en mA. La "tension de contact"
s'affiche sur le petit écran numérique.
Remarques :
Seul le test 1 x I est disponible. La sélection d'une autre valeur de courant de test ramènera le type de test sur c.a. par défaut.
Seules les options de test 10 mA, 30 mA, 100 mA et 300 mA sont disponibles pour les tests c.c.
8.11
Test DDR seuil ajustable (sauf MFT1710 et MFT1815)
.1
Pour tester un DDR avec un courant de déclenchement variable, sélectionner l'option
(droit).
.2
Appuyer sur le bouton de MODE
.3
À l'aide des touches de défilement VERS LE HAUT et VERS LE BAS (boutons de test et de VERROUILLAGE) situées
à droite de l'appareil, ajuster le courant de déclenchement selon la valeur particulière au dispositif.
.4
Valider cette valeur à l'aide du bouton de VERROUILLAGE de gauche.
.5
Effectuer le test selon la procédure décrite au paragraphe 8.4 ci-dessus.
8.12
Test DDR AUTO
La fonction AUTO des options de test de DDR exécute automatiquement les tests 1/2xl, 1xl et 5xl, à 0° et à 180°, sans qu'il soit néces-
saire d'intervenir sur le MFT. L'opérateur peut rester près du DDR et le réarmer chaque fois qu'il se déclenche.
Séquence de test en mode AUTO :
Type de DDR
AC
AC - S
1/2x I à 0°
Y
Indisponible
½ x I à 180°
Y
1 x I à 0°
Y
1 x I à 180°
Y
5 x I à 0°
Y
5 x I à 180°
Y
Pour tester le DDR en mode AUTO :
.1
Placez le sélecteur gauche sur AUTO.
.2
Sélectionnez le type de DDR comme indiqué dans la section 8.2 ci-dessus.
.3
Raccordez les bornes rouge (L1) et verte (L2) du MFT au DDR comme indiqué dans la section 8.3 ci-dessus.
.4
Appuyez sur la touche TEST du MFT. Les tests sont exécutés dans l'ordre indiqué dans le tableau.
Le DDR doit être réarmé chaque fois qu'il se déclenche. Le MFT détecte automatiquement le réarmement et les tests se poursuivent
jusqu'à ce que le DDR ne se déclenche plus. Le MFT affiche "END" ("FIN").
pour sélectionner le symbole
.
A
A - S
B
Y
Indisponible
Indisponible
Y
Y
Y
Y
Y
sur le cadran secondaire
23