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Les testeurs des séries MFT1700 et MFT1800 peuvent contrôler les types de dispositifs DDR suivants :
AS, A, S, et Programmables (habituellement, il s'agit de DDR de type A à temps de déclenchement variable)
Les modèles MFT 1730 et MFT1835 peuvent également tester les DDR de type B.
Type DDR
C.A.
A
Réagissent aux
Réagissent aux
courants résiduels
courants résiduels
Description
de terre A.C.
de terre A.C. et D.C.
uniquement
pulsatoires.
Symbole
used
Protection
Protection contre les
d'usage général
courants A.C. et D.C.
Application
pour les tensions
pulsatoires (A.C.
sinusoïdales A.C.
redressé)
Temps de
Selon définition de la norme BS EN
déclenchement
>300 ms (>1999
>300 ms (>1999 ms
½ I
ms UK)
UK)
1 x I
≤300 ms
≤300 ms
2 x I
≤150 ms
≤150 ms
≤40 ms (30 mA
≤40 ms (30 mA RCD's
5 x I
RCD's only)
only)
8.1
Effectuer un test de DDR
NOTES:
Pour sélectionner 0° ou 180°, presser puis relâcher le bouton de mode lorsqu'on se trouve en mode test DDR
n
(Note : Le test des DDR de type B est seulement disponible sur les modèles MFT1730 et 1835)
n
Les DDR à 10 et 30 mA doivent être testés à ½ x I, 1 x I et 5 x I
n
Tous les autres DDR ont seulement besoin d'être testés à 1 x I
n
I = intensité nominale de déclenchement du DDR
n
Le test à 2 x I n'est disponible que sur les MFT1825 et 1835.
n
Le branchement du cordon de test de Neutre dans n'importe laquelle des options ci-dessus n'affectera pas le ddr, mais une
n
inversion de polarité sera détectée. Sur les produits destinés au Royaume Uni, la mesure sera empêchée.
8.2
Sélection du type de DDR
À l'aide du bouton de droite (cadran secondaire), sélectionner le calibre du DDR. Celui-ci est imprimé sur le dispositif (10 mA, 30 mA,
100 mA, etc.)
Sélectionner le type du DDR (C.A., A, S ou B) en MAINTENANT APPUYE le bouton de mode
se trouve en mode de test DDR. Répéter l'action jusqu'à ce que le type souhaité s'affiche. Se reporter au tableau ci-dessus pour les
différents symboles d'option et leurs descriptions.
Note: Le test des DDR de type B n'est disponible uniquement que sur les MFT 1730 et 1835.
20
S
B
DDR sélectifs fonctionnant
Réagissent aux courants
de façon retardée en combinaison
résiduels de terre A.C et D.C.
avec un dispositif de type A.C. ou
pulsés et D.C. lissés.
A.
et
Utilisation en aval d'un DDR A.C.
Applications particulières dans
standard pour prévenir les conflits
lesquelles une
de déclenchement (par ex. pour
protection contre les défauts
permettre un déclenchement local
de terre D.C. aussi bien que
de s'opérer en premier.)
A.C. peut être requise.
Les autres types ne
ASTUCE : Retenir que le « S »
réagiront pas aux défauts de
signifie « Slow » (Lent en anglais)
terre D.C.
300 ms (>1999 ms UK)
>300 ms (>1999 ms UK)
130 ms to 500 ms
≤300 ms
60 ms to 200 ms
≤40 ms <150 ms (30 mA RCD's
≤40 ms <150 ms (30 mA RCD's
only)
only)
pendant 2 secondes lorsqu'on
8.3
Test à ½ x I nominale du DDR (sans déclenchement)
.1
Placer le sélecteur rotatif GAUCHE sur la plage de test DDR
.2
Régler le sélecteur rotatif DROIT sur l'intensité de déclenchement du DDR à tester (ex. :
S'assurer que 0° est bien indiqué à l'écran (Cf. ci-dessous) :
.3
Raccorder les bornes de phase (L1) et de terre (L2) de l'appareil aux bornes de phase et de terre du DDR (ou à
la phase et à la terre du circuit protégé par le DDR). Utiliser pour cela soit les cordons de test séparés
Soit le cordon de
.4
Appuyer sur la touche TEST.
L'écran devrait afficher l'une des indications suivantes :
>1 999 ms
=
Test DDR à ½ x I (sans déclenchement) réussi
« trp »
=
DDR déclenché, échec test
.5
Appuyer sur le bouton de mode pour sélectionner 180°.
.6
Répéter le test précédent.
Ni l'un ni l'autre de ces tests ne doivent faire déclencher le DDR.
8.4
Test à 1 x I nominale (avec déclenchement pour DDR calibrés à 30 mA)
.1
Placer le sélecteur rotatif GAUCHE sur la plage de test DDR
.2
Raccorder l'appareil comme décrit au paragraphe 8.3 ci-dessus.
.3
Appuyer sur le bouton de mode pour sélectionner 0°.
.4
Appuyer sur la touche TEST.
L'écran devrait afficher l'une des indications suivantes :
??? ms*
=
DDR déclenché
>300 ms =
Échec test DDR (pas de déclenchement)
* n'importe quelle valeur inférieure à 300 ms indique que le DDR a déclenché dans un temps non acceptable.
.5
Appuyer sur le bouton de mode
.6
Répéter le test précédent.
Enregistrer la valeur la plus élevée des deux.
8.5
Test à 2 x I nominale (avec déclenchement pour DDR calibrés à 30 mA) – MFT1825 et 1835 SEULEMENT
.1
Répéter la séquence test du paragraphe 8.4 mais avec le sélecteur rotatif du cadran de GAUCHE positionné sur la
plage de test
DDR.
.2
Appuyer sur le bouton de mode
.3
Appuyer sur la touche TEST.
L'écran devrait afficher l'une des indications suivantes :
??? ms*
=
DDR déclenché
>150 ms
=
Échec test DDR (pas de déclenchement)
* n'importe quelle valeur inférieure à 150 ms indique que le DDR a déclenché dans un temps non acceptable.
.4
Appuyer sur le bouton de mode
.5
Répéter le test précédent.
Enregistrer la valeur la plus élevée des deux.
.
= 30 mA, etc.)
d'alimentation secteur.
.
pour sélectionner 180°.
pour sélectionner 0°.
pour sélectionner 180°.
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