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.4
Appuyez sur la touche TEST puis relâchez-la pour démarrer le test.
.5
À la fin du test, l'écran affiche la résistance de boucle sur les segments d'affichage de grande taille, et le courant de
défaut sur les segments d'affichage de petite taille.
7.4
Calcul du courant de défaut potentiel et du courant de court-circuit potentiel (PFC & PSCC)
Le courant de défaut potentiel et le courant de court-circuit potentiel d'un circuit sont automatiquement calculés lors d'un test
d'impédance de boucle. Le calcul utilise une tension de circuit nominale et non la tension effective du circuit, et le résultat s'affiche
au-dessus de la mesure d'impédance de boucle, comme montré ci-dessous :
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Le courant de défaut est calculé au moyen de la formule : -
PSCC ou PFC = (Tension nominale d'alimentation en Volts / Résistance de boucle en Ohms)
Exemple PSCC ou PFC = 230 V / 0.13 Ω
= 1769 VA (affiché sur 1.77 kA sur le MFT)
La tension nominale d'alimentation utilisée pour ce calcul est sélectionnée automatiquement en fonction de la tension effective du
circuit. L'appareil utilise les valeurs suivantes : -
Tension effective mesurée
Tension nominale
> 75 V
55 V
≥= 75 V et <150 V
11 0V
≥= 150 V et <300 V
230 V
≥=300 V
400 V
7.5
Méthodes de mesure et sources d'erreur
Méthodes de mesure
Pendant un test de boucle, l'appareil mesure la différence entre les tensions d'alimentation sans charge et avec charge. À partir
de cette différence, il est possible de calculer la résistance de boucle. Le courant de test variera de 15 mA à 5 A, selon la tension
d'alimentation et la valeur de résistance de la boucle. La chute de tension pour une charge de 15 mA est particulièrement faible. Par
conséquent, l'appareil effectue automatiquement plusieurs mesures. Ce test prend ainsi un certain temps à s'exécuter, généralement
20 secondes.
7.6
Méthodes de mesure et sources d'erreur
Méthodes de mesure
Pendant un test de boucle de terre, l'appareil mesure la différence entre les tensions d'alimentation à vide et en charge. À par-
tir de cette différence, il est possible de calculer la résistance de terre. Le courant de test varie de 15 mA à 4 A selon la tension
d'alimentation et la valeur de résistance de la boucle. La chute de tension pour une charge de 15 mA est particulièrement faible.
En conséquence, l'appareil effectue automatiquement plusieurs mesures. Ce test prend ainsi un minimum de temps à s'exécuter,
typiquement 20 secondes.
Sources d'erreur possibles
La lecture dépend de la stabilité de la tension d'alimentation pendant le test. C'est pourquoi, des harmoniques ou des transitoires
causées par d'autres équipements durant ce test peuvent créer une erreur de lecture. L'appareil est capable de détecter certaines
sources de bruit et il en avertira l'utilisateur.
Il est recommandé d'effectuer plus d'un test sur le circuit pour s'assurer de la reproductibilité de la mesure, en particulier pour les
tests 3Lo.
Les charges capacitives dans le circuit phase-terre risquent d'affecter la précision d'un test de boucle sans déclenchement. Pour cette
raison, le test de boucle P-E (sans déclenchement) ne doit pas être utilisé sur des circuits de type P–N.
Les erreurs peuvent être limitées par :
L'utilisation de deux cordons de test avec des pointes de touche appliquées fermement sur des conducteurs propres.
n
La prise de plusieurs mesures et le calcul de leur valeur moyenne.
n
La prévention de toutes les sources de bruit potentielles sur l'installation par leur mise hors tension (coupure), par exemple.
n
C'est le cas des charges à commutation automatique ou des commandes moteur.
8.
Test des Dispositifs différentiels à courant Résiduel
Les testeurs des séries MFT1700 et MFT1800 sont capables de réaliser les tests suivants sur des DDR (disjoncteurs différentiels) :
1/2I
Test sans déclenchement à la moitié de l'intensité nominale de déclenchement pendant 2 secondes (le dis
positif DDR ne doit pas déclencher pendant ce temps)
I
Test de déclenchement à l'intensité nominale de déclenchement du dispositif. Le temps de déclenchement
sera affiché
2xI
Test de déclenchement à deux fois l'intensité nominale de déclenchement du dispositif (disponible
uniquement sur les modèles MFT 1825 et 1835)
5I
Test de déclenchement à cinq fois l'intensité nominale de déclenchement du dispositif. Le temps de
déclenchement sera affiché en millisecondes.
0 or 180°
Certains dispositifs DDR sont sensibles à la polarité de l'alimentation, notamment au fait que le courant de
test soit appliqué en phase ascendante ou descendante. Les tests doivent dans ce cas être effectués avec la
polarité correspondant à un angle de phase de 0° et de 180°. Le temps de déclanchement maximum sera
retenu.
Test à rampe
Test déclenchement mode rampe permet le contrôle du seuil de déclenchement en courant d'un dispositif
DDR.
Test à rampe
Permet de raccourcir le test plus en utilisant moins d'échelons de courant que dans un test à rampe
rapide
standard. Cette fonction permet de réaliser sensiblement plus de tests en un temps donné.
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