8050 IO-Link
Bürkert
11.3
Aperçu des événements de diagnostic
Événement
Texte
de diagnostic
d'événement
181
Coil. circ. fail.
180
Temp. circ.
fail.
201
Device fail.
283
Memory fail.
446
I/O 1
overload
447
I/O 2
overload
485
Simulation
act.
453
Dépassement
débit
441
I-Out 1 range Sortie I 1 à la limite de
444
U-Out 1
range
443
P-Out 1
range
442
I-Out 2 range Sortie I 2 à la limite de
445
U-Out 2
range
962
Tube vide
834
Temperat.
range
Pour plus d' i nformations sur le diagnostic : voir les "Informations de diagnostic"
→ 48
11.4
Informations sur l'appareil
Le sous-menu Device info contient tous les paramètres affichant différentes informations
pour identifier l' a ppareil.
Navigation
Cause
Mesures correctives
Défaut bobine/
Remplacer l' a ppareil de
fréquence Courant de
mesure.
bobine MID en dehors
de la gamme de
tolérance
Rupture de ligne/court-
Remplacer l' a ppareil de
circuit capteur de
mesure.
température
Erreur hardware interne Remplacer l' a ppareil de
mesure.
Défaut CRC
Réinitialiser aux réglages par
défaut.
Surpression à la sortie 1
Augmenter l' i mpédance de
charge.
Surpression à la sortie 2
Augmenter l' i mpédance de
charge.
Simulation de la valeur
–
mesurée active (via
configuration à
distance)
Dépassement débit actif
–
(via entrée auxiliaire)
Ajuster le paramètre ou le
gamme
process.
Sortie U 1 à la limite de
Ajuster le paramètre ou le
gamme
process.
Sortie P 1 à la limite de
Ajuster le paramètre ou le
gamme
process.
Ajuster le paramètre ou le
gamme
process.
Sortie U 2 à la limite de
Ajuster le paramètre ou le
gamme
process.
La conduite est
Ajuster le process.
entièrement ou
partiellement vide
Température du produit
Ajuster le process.
en dehors de la gamme
admissible
Diagnostic et suppression des défauts
Signal d'état [ex-
F
F
F
F
C
C
C
C
S
S
S
S
S
S
S
usine]
37